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深圳市易捷测试技术有限公司技术经理付强先生在《单/双面硅光在片测试集成解决方案》主题演讲中，详细介绍了公司的单/双面硅光在片测试集成解决方案，分享了单面硅光在片测试、双面硅光在片测试的核心技术与实现方案，同时介绍了易捷测试在片测试系统集成软件系列GBIT-SiPH硅光测试版的核心功能与应用场景，为硅光芯片的在片测试环节提供了可落地的解决方案。
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