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方案简介：
半导体参数测试系统是一种用于分析半导体器件电学特性的设备，广泛应用于半导体器件的研发和评估。gbitest半导本参数测试系统为满足不同参数测试，如直流、高频、高功率等特性测试功能，包括电流电压(I/V)测试、电容电压(C/V)特性测试、脉冲式iv测试、任意线性波形发生与测量、信号完整性、低频噪声测等。 半导体整个生产工艺过程中，半导体特性测试是验证芯片是否满足初步设计标准和功能的关键一步。GBITEST半导体参数测试系统精简，简单的系统将会更加高效，易捷测试通过对探针台灵活配置不同类型的光学显微镜、探针及兼容测量仪器仪表，同时还可满足未来可升级扩展，模块化需求。该测试系统内置专业的测试软件gbitest，为用户提供了分布式模块化，图形化管理架构，可扩展性高，即托即用，快速高效。其被广泛应用于半导体器件，光电材料，先进材料与器件的测试。 |
方案主要功能：
测试指标配合半导体参数分析仪
器件的i/v参数提取 | 芯片的cv参数提取 | 脉冲参数提取 |
| DC测试（常用） | CV测试（常用） |
| GBITEST测试系统软件+KEYSIGHT 4156C/B1505/4200半导体参数分析仪+探针台 | GBITEST测试系统软件+KEYSIGHT 4282/B1505/B1500C，添加MFCMN模块 |
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