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GBITEST-200HP包含高压芯片测试所需的完整配置，能够在最短时间内准确地完成测试要求。提供专业的测试方案，能够实现高品质的I-V、C-V、RF 等测试。

GBITEST-200HP拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。在直流应用中，GBITST-200HP高品质的电缆和三轴信号通路，可使DUT特性分析达到pA级别；同时，配置的红外激光幕布功能，可以有效的帮助客户起到人员防护等功能，保证测试情况下的安全性。

载物台的单手快速移动及升降、一体化真空开关等优化设计使操作流程更加简洁，不管是初学者还是经验者，使用起来都非常方便、易懂。

专门为高压设计的隔离及防护装置，可以有效的防止打火现象，同时可配合扩展所设计的各种选项，轻松实现如负载牵引系统、太赫兹系统、抗辐照等系统的搭载，GBITEST-200系统也可根据您的未来项目需求进行重新配置。

XY行程：50mm80mm;
驱动方式：手动
显微镜：带光源，点光源DC3.4V，300mA
CCD：彩色200万像素
温度范围25 ~200摄氏度
专有系统控制箱