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Keysight 光波元器件分析仪LCA| N4373E
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
光波元器件分析仪是测试 10Gb/s 和 40Gb/s 电光元器件、光纤通道、有线电视传输系统、光载无线电和航空航天与国防等应用中的所有相关光电元器件 S 参数（例如 S21、S11 和 S22）的首选仪器。
光波元器件分析仪可测量 PIN 二极管、APD、LiNbO3 和电吸收调制器以及调制激光源的电光 S21 响应度。
根据这一测量结果，LCA 可以确定绝对响应度、3 dB 截止频率以及相对和绝对群时延。
通过高绝对精度的响应度测量，比较不同位置的测量结果
完整的解决方案可以推动产品快速上市
校准速度快而且简单易用，可以实现高生产率
测量精度可溯源至国际标准，实现出色的可靠性
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