CPO芯片双面光电晶圆级自动测试系统_量子计算/光学/光通信测试方案_解决方案

深圳市易捷测试技术有限公司已深入参与先进封装与光学引擎测试领域。针对光子学行业市场测试需求，可满足市场六大核心需求：高宽带内存测试、（EIC & PIC）光电器件测试、先进封装测试、GPU测试、可靠性测试、高频测试。

该系统应用价值：主要服务于硅光子、光通信器件企业，解决光子集成芯片、光无源器件在研发和量产阶段的性能验证需求，尤其适合对偏振特性敏感的高速光模块、相干光通信器件的测试。

以下是解决方案：模块化的硅光子集成测试系统，该系统由4个核心单元组成标准化测试流程。

1. TLS（可调谐激光源）	提供宽范围、高精度的可调谐激光输入，是光器件测试的信号源基础。支持多波长连续扫描，满足不同波段光器件的测试需求。
2. POL（偏振控制器）	负责调控输入光的偏振态，模拟不同偏振方向的光信号输入。支持多种光纤类型：PMF Elliptical-core（椭圆芯保偏光纤）、PMF Bow-tie（蝴蝶结型保偏光纤）、PMF Panda（熊猫型保偏光纤），覆盖主流保偏光纤测试场景
3. PIC（光子集成芯片测试平台，即TS3000-DS主机/TS3500-DS）	核心测试单元，搭载被测器件（Device-Under-Test）提供高精度的光对准、耦合与测试环境，支持晶圆级、芯片级的光器件测试
4. OPM（光功率计）	负责采集经过被测器件后的光信号功率，计算损耗参数支持多种输出光纤：MMF（多模光纤）、PCF（光子晶体光纤）、SMF（单模光纤），适配不同输出需求

该系统测试能力与优势

1. 核心测试参数：专注于光器件的两个关键性能指标

插入损耗（IL）：衡量光信号通过器件后的功率衰减，是光通信器件的基础指标

偏振相关损耗（PDL）：衡量不同偏振态光信号通过器件时的损耗差异，对高速光通信系统至关重要

2. 软件支持：通过Measmatic软件实现自动化测试

可创建0dB基线参考，自动完成全波长扫描测试，生成可视化的损耗-波长曲线，直观展示器件在全波段的性能表现

3. 集成化优势：将激光源、偏振控制、测试平台、功率计整合为标准化流程，减少手动操作误差，提升测试效率与重复性，适合研发验证与批量测试应用场景。

重要EIC-PIC测试设备：双面硅光探针台，CPO（光电共封装）的核心是把光引擎和交换ASIC芯片异构集成在同一个封装体里，要实现这一目标，必须先解决硅光芯片的双面精准测试问题，而硅光双面探针台就是干这个的：

深圳市易捷测试技术有限公司提供单/双面硅光全自动探针台：