随着航天电子、军用芯片需求爆发，抗辐射性能已成半导体行业的"生死线"。GX200 X射线总剂量辐射地面模拟试验系统，通过实验室精准复现太空辐射环境，助力企业快速验证器件可靠性，缩短研发周期50%以上——这正是SpaceX、NASA供应商都在使用的测试方案！

 GX200的破局之道
"三合一智能测试闭环"颠覆传统：
1️⃣ 精准模拟
▸ 独家X射线发生系统（0.1-300krad(Si)/s可调）
▸ 太空辐射环境实验室级复现（误差<±5%）
2️⃣ 实时洞察
▸ 剂量率在线检测+电性能测试同步进行
▸ 毫秒级数据捕捉，避免传统分段测试误差
3️⃣ 安全智能
▸ 军工级屏蔽设计（泄漏剂量<1μSv/h）
▸ 全流程自动化控制，杜绝人为操作风险

技术亮点（结构化呈现）
‖ 智能中控系统‖
• 模块化架构支持5系统协同（响应延迟<2ms）
• 支持HMI/PC双端控制，参数一键保存调用

‖ 极限测试能力 ‖
• 探针台支持-55℃~175℃温控辐照
• 最大支持12英寸晶圆级测试

‖ 数据资产化 ‖
• 自动生成抗辐射能力曲线图
• 符合MIL-STD-883H/ESA SCC22900标准

GX200 内置剂量率监测模块（误差＜±3%），符合 GB/T 10257-2025、GB/T 14054-2013、EJ/T 985-1995、IEC 60532:2010 及 MIL-STD-883、JEDEC JESD89 等相关标准

基于X射线的晶圆级抗辐照电路测试系统

基于X射线的晶圆级抗辐照电路测试系统是由深圳市易捷测试技术有限公司设计开发。采用10keV X射线作为辐射源开展效应试验，不仅易于实施，节省资金，在器件封装前即可对器件的抗辐射水平给出评估，是一种可行的评估器件总剂量水平的手段。

10keV X射线辐射源系统可以用于完成：

• 特定结构器件的基本辐射响应分析

• 用过实验结果跟踪给定工艺的加固情况

• 迅速提高批量生产的芯片的加固情况反馈。

相对60Co γ射线辐射源而言，基于X射线的晶圆级抗辐照电路测试系统体积小，占地面积小，适合于实验室与工厂的生产线上使用，而且操作简单，调节方便，通过面板进行参数设置与操作，可精确控制辐射剂量率，且可调辐射剂量率范围较大。设备安全性好，仪器周边的辐射量与普通环境无差别。

安全、高效、稳定的晶圆级抗辐照电路测试

术语：

太空辐射 → 电离辐射环境

航天器件 → 高可靠性电子元件

抗辐射水平 → 辐射耐受能力