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HTGB/HRTB/H3TRB可靠性测试系统，是针对氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）、MOSFET、IGBT等功率器件测试而设计的平台，精准量测，符合MIL-STD-750、JESD22-A108 和 AEC-Q101 标准的要求。其中相匹配的Sagittarius是半导体参数测试和管理方案软件。应用方案已广泛覆盖了包括CMOS, Si/GaAs IC、平板显示（FPD）、智能高功率芯片、有线/无线通讯器件、RFIC、RF MOSFET、硅光子器件。该系统主要高功率探针台可以确保精密器件特性、晶圆级可靠性和故障分析、高速器件晶圆分类等可信赖的测量。还有应用于器件表征、晶圆级可靠性验证、SPICE建模或产量提升，以及配备精密晶圆校准，应用在三温低漏电流DC和高频/射频测试的探针台。
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