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HED-N5000|多管脚高性能全自动静电放电测试机
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
最大可进行8个器件的测试。最大测试管脚数1024Pin 虽然有一定的限制，但是可以复数同时印加 是满足日本、国际规格的高可靠性设备 (满足JEITA/ESDA/JEDEC规格) 可用于闩锁测试，并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD印加法 也可通过DC测试判断pass/fail，以及作为可添加选项，可以利用向量来进行功能测试。
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