深圳市易捷测试技术有限公司
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DLP 有源负载 牵引Load Pull 0.5-40 GHz
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
产品简介:
有源负载牵引系统是全球负载牵引实验室不可或缺的工具,它赋予了用户针对各种应用控制和调节阻抗的能力。DLP 系统是一款全矢量负载牵引系统,最多可支持 6 个环路,其中负载端和源端各可处理 3 次谐波。
DLP 0.5–40GHz = 超宽带矢量有源负载牵引 + 谐波全控制 + Pulsed IV/S参数三合一**,是大功率射频器件表征的高端首选,**非无源**,核心优势在阻抗覆盖、谐波控制与测试速度。
DLP 系列(0.5–40GHz):有源 + 无源混合架构,CW / 脉冲(RF/DC),动态范围>60dB,支持 GaN/LDMOS 大功率器件测试,标配 30dBm,可扩展至 50dBm+
DLP(Dynamic Load Pull)是 Focus Microwaves 的矢量有源负载牵引旗舰平台,0.5–40GHz 超宽带,非无源,靠电信号注入实现无源调谐器达不到的阻抗范围与测试能力,主打大功率、GaN/SiC 器件与 5G / 卫星功放测试。产品优势:
Focus Microwaves的动态负载牵引(DLP)平台是用于有源负载牵引测量的尖端技术,专为精度、速度和可靠性而优化。该平台支持高达40GHz及以上的频率,为连续波和脉冲信号应用提供灵活解决方案。DLP可实现基频和谐波调谐、时域测量以及高级行为建模。凭借集成的直流IV和脉冲IV测量选项,这一集成系统适用于器件表征与测试的所有阶段,从初始研发到最终产品测试。其直观的界面和行业领先的校准技术确保了测量的精准与高效。
产品功能:
在 DLP 测量设置中,系统通过连接在被测器件(DUT)输入和输出端的双定向耦合器及定制接收机,来测量正向(a1, b1)和反向(a2, b2)行波信号。通过捕获这些“a”和“b”波形,矢量负载牵引系统能够利用高精度校准的接收机,实时计算出 DUT 所呈现的负载阻抗。借助业界标准的校准技术,DLP 系统能生成精确的误差修正模型,这是实现高精度绝对测量和矢量测量的关键。
为了追求极致的效率与速度,DLP 有源负载牵引系统采用了一种独特的负载牵引算法来简化测量流程。它能在保持高精度的同时,减少达到目标负载阻抗所需的迭代次数。此外,该系统还经过了精细调校,完美支持连续波(CW)和脉冲模式下的直流与射频同步测量。
不仅如此,其友好的软件界面也大幅提升了用户体验,为日常高效设置和执行高质量测量提供了一个直观的平台。这种以用户为中心的设计理念,确保了无论经验如何,用户都能轻松上手并稳定地完成可靠的测量。凭借优化的硬件配置、先进的负载牵引算法以及易用的软件,DLP 有源负载牵引系统已成为负载牵引实验室中研究人员和工程师的得力助手,助力他们实现精准的阻抗控制与测量。
产品核心应用:
单音连续波(CW)和脉冲信号
基频和谐波调谐:− 具备脉冲直流(DC)测量能力
负载和源拉调谐配置
用于器件表征的大动态范围:− 支持峰值功率范围从 0dBm 到 >50dBm 的器件。
时域测量:− 用于高级波形工程− 高级卡迪夫模型生成
S参数测量
脉冲S参数(脉冲直流和脉冲射频)
功能不断扩展的灵活多功能API
混合负载拉动和源拉动功能
该系统可应用于设计周期的各个阶段
初始器件表征
MMIC 或 PA 设计
设计验证
工厂产品测试
紧凑型模型验证与优化
DLP 不仅允许用户优化基波阻抗,还能优化谐波阻抗以及源端和负载端,从而实现对附加功率效率和线性度等关键参数的全面表征与优化。