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GBITEST国产研发型8英寸硅光手动探针台|定制探针台
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
型号:GBITEST-200-SiPH8英寸硅光测试手动探针台硅光探针台应用：该探针台包含硅光芯片的DC&RF&OO测试所需的完整配置，在短时间内可准确地完成芯片的参数测试与提取。XY行程快速定位行程：210mm×210mm； 精调行程： 210mm×210mm ，精调分辨率：≤ 1.0 μm；驱动方式：手动Z轴行程10mm；驱动方式：手动 Theta旋转快速旋转角度：360°；精调角度：±15°，精调分辨率：＜0.02°；驱动方式：手动Chuck台尺寸:203mm(8inch)
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