脉冲IV测试设备_深圳市易捷测试技术有限公司

EN

联系我们

深圳市易捷测试技术有限公司

电话：0755-83698930

邮箱：dongni.zhang@gbit.net.cn

地址：深圳市福田区福虹路9号世贸广场C座1203室

关注我们

首页
解决方案

半导体测试测量系列方案

脑机接口芯片测试系统解决方案

人工智能系列器件测试方案

量子计算/光学/光通信测试方案

材料测试系统方案

失效分析系统方案

半导体可靠性测试

HTGB/HRTB/H3TRB可靠性测试系统 HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统可靠性测试-先进并行可靠性测试系统可靠性测试-一体化晶圆级/封装级测试系统

先进封装测试

芯片植球后全自动射频测试应用异构芯片RDL层双面全自动测试的应用

晶圆IV/CV直流及功率器件测试方案

功率器件和功率集成IC在片测试系统方案 MEMS芯片压力测试系统方案半导体参数测试系统解决方案

射频毫米波测试测量

太赫兹频段三端口晶圆混合器测量系统脉冲Pulsed IV 系统三合一射频微波器件表征-5G矢量负载拉力测量系统射频晶圆测试-滤波器全自动测试系统毫米波/太赫兹晶圆级测试-全自动载片测试系统

航空航天类器件测试系统

晶圆级X射线抗辐射电路测试系统解决方案

脑机接口芯片测试系统

PCB电路信号完整性（SI）测量解决方案

MRAM 磁存储器全自动晶圆测试解决方案

超高密度芯片测试的终极解决方案

PCB板高频测试系统助力开发下一代人工智能芯...

硅光子在片测试系统

硅光子APD量子效率与参数分析系统

AI芯片测试之硅光子光接收器-APD雪崩发光...

CPO芯片双面光电晶圆级自动测试系统

单光子雪崩二极管SPAD测试系统

硅光子在片测试系统

CMOS/CIS图像传感器测试系统

材料电磁参数性能测试系统

芯片实时红外热成像测试系统解决方案

车规级芯片ESD静电测试-AEC-Q101方...

芯片ESD全自动静放电破坏测试系统

车规ESD静电测试-CDM测试系统

芯片ESD静电测试-TLP测试系统

EMMI微光显微镜成像系统

非破坏性检测-超声检测IGBT模块
产品中心

探针台系统

MPI探针台设备

量子/光电/光学传感器测试设备

全自动单DIE芯片探针台

ESD/CDM/TLP测试仪

有源/无源调谐器（负载牵引）

封装微组装测试设备

可靠性测试设备

失效分析设备

仪器仪表

东京精密TSK探针台

东京精密TSK全自动探针台-FP2000/F... TSK全自动探针台 UF190R /UF20... TSK探针台|东京精密ACCRETCH|AP... 全自动探针台| 东京精密TSK探针台|FAB... 东京精密ACCRETCH减薄研磨机-PG30...

实验室研发型探针台

手动探针台|PCB探针台| 300mm TS... GBITEST国产研发型8英寸硅光手动探针台... 射频探针台|DC/IV测试|8英寸高低温探针... 国产探针台|GBITEST高功率8英寸手动高... 国产探针台|GBITEST直流射频测试手动探...

低温探针台

超导垂直磁场低温探针台磁场低温探针台液氮低温探针台连续流探针台闭循环低温探针台

PCB探针台

双面探针台| PCB射频测试探针台 PCB探针台高频

射频探针及附件

ITAN™ T250MAK（单端）和T250... 射频探针指南 67GHz 射频探针直流/高压/射频/光电探... 220GHz 射频探针|直流/高压/射频探针... 射频探针台其它配件

MPI探针台|高压大电流半自动探针台TS20...

高压探针台|8英寸半自动高功率探针台TS20...

MPI双面硅光探针台|TS3000-DS 1...

MPI单DIE探针台|高密度芯片测试探针台|...

MPI探针台|手动探针台|太赫兹探针台|TS...

MPI射频手动探针台|6英寸高功率探针台 T...

MPI探针台|高功率探针台12英寸| TS3...

手动探针台|6英寸手动探针台 TS150|学...

MPI探针台TS3500，TS3500-SE...

高低温探针台TS3000-SE| 12英寸半...

探针台| 12英寸半自动探针台|TS3000...

MPI探针台|TS200 8英寸手动探针台|...

探针台|双面PCB探针台TS300-PCB|...

MPI探针台|TS3500-SE高低温探针台...

MPI探针台|TS3000-HP大功率探针台...

MPI探针台| TS2000-IFE|射频探...

MPI探针台|TS2500-RF 8英寸全自...

MPI探针台|TS300手动探针台|直流射频...

双面硅光探针台|CPO芯片晶圆级双面测试探针...

COP芯片双面硅光探针台|TS3500-DS...

晶圆硅光探针台| 硅光子全自动探针台TS30...

APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪

SPD2200 (单光子雪崩二极管）效率整合...

SG-O Wafer级影像传感器晶圆级测试设...

CMOS/CIS图像传感器测试系统

单DIE探针台|高密度芯片测试探针台|DTS...

GP6000全自动单芯片测试机

HANWA HED-C5000R CDM/器...

HANWA TLP静电测试仪 HED-T50...

Hanwa 全自动静电放电及闩锁效应测试机/...

HANWA HED-W5100D/W5300...

HED-N5000|多管脚高性能全自动静电放...

Hanwa HED-S5000R最高256p...

HANWA 桌上便携式ESD测试机 HCE-...

日本 Hanwa ESD 测试设备|HED-...

Hanwa Electric Product...

有源负载牵引LOAD PULL

DLP 有源负载牵引Load Pull 0... Focus Rapid VT（0.5–40 ... 低温阻抗调谐器LNA测量设备 Maury太赫兹有源负载牵引系统 Maury 负载牵引/Loadpull/矢量...

噪声测量设备

噪声参数测试系统 Focus 噪声测量系统（NMS）

脉冲IV测试设备

Pulsed IV/ Auriga高压脉冲P... Auriga 标准脉冲PIV 220V &... AM3200 Maury Pulsed IV...

无源负载牵引 Loadpull

手动宽带调谐器0.4-18GHz Delta tuner 0.2GHz至120... Focus 基波宽频Tuners 0.1-1... Focus 基波宽频调谐器和谐波自动调谐器T... Focus 低频基波调谐器 1.5-170 ...

超小型研发用激光植球机

研发型激光植球机

高速激光植球机|自动植球机

半导体切割机-AD2000TS/晶圆切割机|...

多功能模块装片机

芯片多功能分选机

清洗机

全自动板级植球机 MIZAR BM-4500

手动键合机

全自动晶圆挑片分选机 AP-1800

半自动挑片分选机 AP-800 Plus

多功能全自动芯片贴片固晶机 TB-1000

半自动挑片分选机 AP-601 Plus_

精密倒装芯片贴片机 CB-610

全自动芯片挑片分选机 WBS-300

超高精度倒装芯片贴片机 CB-700

高密度全自动BGA植球机 BA-1700 P...

半自动bga植球机 TBA-600

HCI/BTI/TDDB/DCEM 封装级可...

HCI/BTI封装级可靠性测试仪

先进器件可靠性测试系统

全功能可靠性测试系统

hiVIP HCE/TDDB 封装级可靠性测...

TMS/RMS/SPT半导体可靠性测试系统

先进电子迁移可靠性

DCEM 封装级可靠性测试系统

DCEM 晶圆级可靠性测试系统

微光显微成像系统

EMMI微光显微镜|EMMI微光显微成像系统

芯片封装焊接强度测试仪

晶圆光学检测设备

高端场扫描电镜

半导体场发射扫描电镜

ZEISS 光学微光显微镜

芯片X-ray检测系统

Keysight 光波元器件分析仪LCA| ...

Keysight 半导体参数分析仪| B15...

Keysight PNA网络分析仪 N529...

Keysight PNA-X 脉冲网络仪

Keysight高清晰度示波器

Keysight信号发生器

keysight频谱仪

Keithely 4200A-SCS
软件中心
GBIT-BS 标准版 GBIT-RF 射频 GBIT-SiPH硅光 GBIT-HP高功率 GBIT-CM定制版
测试与租赁
测试与租赁实验室
关于我们
公司简介公司新闻招聘信息联系方式
成交项目|企业动态
成交案例公司动态
FAQ
产品FAQ 技术分享公司业务问题

脉冲IV测试设备

当前位置：主页 > 产品中心 > 有源/无源调谐器（负载牵引） > 脉冲IV测试设备 >

Pulsed IV/ Auriga高压脉冲PIV系统（120...

PHD1200和PHD2000采用先进的脉冲电路技术，可实现晶体管动态导通电阻的精确测量，具有无与伦...

Auriga 标准脉冲PIV 220V & 600...

产品简介：FOCUS第五代脉冲IV/RF表征系统提供无与伦比的性能，能够以极高的速度和精度完成测量。...

AM3200 Maury Pulsed IV测试系统 | 脉...

由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高级测量和建模软件...