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实验室研发设备
高低温探针台| 12英寸半自动探针台|直流射频晶圆测试设备

高低温探针台| 12英寸半自动探针台|直流射频晶圆测试设备

12英寸半自动探针台,可搭载高低温模块实现-60~300°C 的高低温测试,含有屏蔽控
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸

TS3000-SE 半自动300mm探针台


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产品特点:


1,多种晶圆测量应用

  • 模块量测 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f

  • 射频和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上

  • 可靠性测试 - 精确的压力测试

  • 先进的测试控制软件套件



2,ShielDEnvironment™ 屏蔽环境

  •  专为 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所设计的精密量测环境,以得到最佳的 1/f 超低噪测试结果

  • 支援 fA 级超低噪 IV 量测

  • 可编程的显微镜滑台实现自动化之简便操作

  • 具配置弹性的温度可量测范围 -60 °C 至 300 °C


3,工效学设计及弹性选配

  • 简易便利的前门单晶圆/待测物上片设计

  • 内建防震系统

  • 完整的硬件操控整合,方便更快速安全的量测操作

  • 安全测试管理系統 (Safety Test Management, STM™)

  • 选配具自动进行露点控制功能

  • 预留制冷机组空间,节省空间不占位

  • 仪器架选配,可缩短射频电缆之架设长度,提供最高的量测机能





设备简介:


TS3000-SE是TS3000探针台系统的进一步开发,配备MPI ShielDEnvironment™,可实现超低噪声,极其精确和高度可靠的DC / CV,1 / f,RTS和RF测量,主要满足设备的需求表征,  晶圆级可靠性以及RF和mmW  应用。独特的主动冷却探头压板设计可在-60°C至300°C的宽温度范围内提供最大的稳定性,使TS3000-SE探头系统成为在不同热条件下测试设备的绝佳选择。








附件是12英寸半自动探针台的DATA SHEET

1730280905b42d7a.pdf


MPI-TS3000-SE-Automated-Probe-System-Fact-Sheet_00.png