深圳市易捷测试技术有限公司
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电话:0755-83698930
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地址:深圳市福田区福虹路9号世贸广场C座1203室
高低温探针台| 12英寸半自动探针台|直流射频晶圆测试设备
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
TS3000-SE 半自动300mm探针台
产品特点:
1,多种晶圆测量应用
模块量测 - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f
射频和毫米波 - 26 GHz 至 110 GHz 及以上
可靠性测试 - 精确的压力测试
先进的测试控制软件套件
2,ShielDEnvironment™ 屏蔽环境
专为 EMI / RFI / Light-tight 屏蔽所设计的精密量测环境,以得到最佳的 1/f 超低噪测试结果
支援 fA 级超低噪 IV 量测
可编程的显微镜滑台实现自动化之简便操作
具配置弹性的温度可量测范围 -60 °C 至 300 °C
3,工效学设计及弹性选配
简易便利的前门单晶圆/待测物上片设计
内建防震系统
完整的硬件操控整合,方便更快速安全的量测操作
安全测试管理系統 (Safety Test Management, STM™)
选配具自动进行露点控制功能
预留制冷机组空间,节省空间不占位
仪器架选配,可缩短射频电缆之架设长度,提供最高的量测机能
设备简介:
TS3000-SE是TS3000探针台系统的进一步开发,配备MPI ShielDEnvironment™,可实现超低噪声,极其精确和高度可靠的DC / CV,1 / f,RTS和RF测量,主要满足设备的需求表征, 晶圆级可靠性以及RF和mmW 应用。独特的主动冷却探头压板设计可在-60°C至300°C的宽温度范围内提供最大的稳定性,使TS3000-SE探头系统成为在不同热条件下测试设备的绝佳选择。
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