深圳市易捷测试技术有限公司
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ITAN™ T250MAK(单端)和T250MSK(差分)探针
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
这些探远旨在满足先进器件建模、高速通信和下一代研究的需求,融合了强大的机械创新与经过验证的宽带性能。
型号:
| T250MAK GSG0100 |
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| T250MSK GSGSG0100 |
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超宽带覆盖
频率范围从DC至250 GHz,可与最新测试仪器无缝集成,满足宽带信号测量需求。
单端与差分配置
TITAN™ T250MAK:适用于宽带S参数器件表征;
TITAN™ T250MSK差分探头:适用于差分集成电路(IC)和超宽带高速数字应用。
可伸缩(差分GSGSG探头)/可移除(单端GSG探头)尖端保护装置
巧妙集成以保护探头尖端,最大化投资价值——在设置、操作和存储期间提供全面防护。
集成探头对准引导
实现探头与扩展器的无缝组装,在设置和重新配置过程中保护敏感且昂贵的系统组件免受意外损坏。
经过验证的宽带尖端性能
基于TITAN™ T220MA和T220MS DC-220 GHz探头的技术积累,为全球最严苛的应用提供可靠、可重复的测量结果。
至DUT的最短射频路径
最小插入损耗确保最大方向性、动态范围和功率传输,实现同类最佳的射频(RF)和毫米波(mmWave)性能。
加固型250 GHz 0.5 mm阴头连接器
耐用、稳固的接口支持直接安装,旨在保护TITAN™探头和仪器设备。
镍合金尖端
专为长寿命和测量重复性设计,即使在严苛使用条件下也能保持稳定。与其他品牌不同,镍合金尖端适用于所有类型的焊盘金属(金、铜、铝等),无需因焊盘材料更换探头。
应用场景:TITAN™ T250MAK(单端),TITAN™ T250MSK(差分)
晶圆级器件表征 | 宽带S参数、建模、负载牵引、噪声系数 | 差分S参数、噪声系数 |
相控阵与波束成形 | 组件测试 | 差分移相器/放大器 |
高速数字通信 | — | 多Gbps低串扰链路 |
宽带测试与测量 | 谐波、杂散、失真 | 差分宽带频谱分析 |
首创差分探头设计:T250MSK差分探头采用紧凑 sleek 设计,兼具性能与外观优势;
保护用户投资:可伸缩尖端保护装置和加固连接器减少意外损坏,延长探头寿命;
兼容主流测试系统:适配是德科技(Keysight)250 GHz频率扩展器(NA5307A),并支持170/240 GHz等灵活配置;
面向先进器件测试:适用于放大器、混频器、倍频器、移相器及高速数字IC等严苛场景。
射频集成电路(RFIC)、毫米波集成电路(MMIC)的晶圆级S参数与噪声系数测量;
相控阵天线与波束成形器的开发验证;
太赫兹(THz)、6G、点对点超高速无线链路原型设计;
先进差分功率放大器(PA)、DAC/ADC及电路模块的设计测试;
差分宽带频谱分析与失真表征。
TITAN™ T250系列探针(包括T250MAK单端和T250MSK差分型号)凭借其超宽带性能(DC至250 GHz)和机械设计优势,可适配多种测试仪器与应用场景,以下是其兼容性的核心信息:
是德科技(Keysight)频率扩展器
明确支持与是德科技250 GHz频率扩展器(如NA5307A型号)直接对接,实现从射频到毫米波频段的高精度测量。该兼容性确保用户可无缝集成至现有测试系统,无需额外适配硬件。
宽带矢量网络分析仪(VNA)
适用于覆盖DC至250 GHz频段的VNA设备,支持S参数、噪声系数、负载牵引等关键参数表征,满足先进器件建模与高速通信测试需求。
探头定位与扩展系统
集成探头对准引导功能,可与自动化探针台、手动探针座等定位系统兼容,在设置和重新配置过程中保护敏感组件,降低操作复杂度。
尖端保护与连接器适配
配备加固型250 GHz 0.5 mm阴头连接器,支持直接安装至测试仪器,同时兼容可伸缩/可移除尖端保护装置,适配不同场景下的存储与操作需求。
焊盘金属兼容性
采用镍合金尖端设计,适用于金、铜、铝等多种焊盘材料,无需因被测器件(DUT)金属类型更换探头,降低测试成本并提升效率。
极端温度环境
工作温度范围覆盖-60℃至200℃,可适配高低温箱、热真空测试系统等环境模拟设备,满足汽车电子、航空航天等严苛场景需求。
以上内容均由AI搜集总结并生成,仅供参考
凭借TITAN™ T250MAK和T250MSK探头,您将在宽带、毫米波和高速数字测量领域引领当下与未来。联系我们的团队,了解更多可用性、技术细节等信息。

TITAN™ T250系列探针(T250MAK单端与T250MSK差分型号)针对高频测量需求设计,其技术参数覆盖电气性能与机械特性,以下从核心参数维度展开说明:
| 参数名称 | T250MAK(单端) | T250MSK(差分) | 说明 |
|---|---|---|---|
| 频率范围 | DC至250 GHz | DC至250 GHz | 覆盖超宽带信号,满足毫米波、太赫兹及下一代通信测试需求 |
| 特性阻抗 | 50 Ω | 50 Ω | 标准阻抗匹配,确保信号传输稳定性 |
| 直流电流 | < 1A | < 1A | 支持低功耗器件测量,避免对被测电路造成过大负载 |
| 直流电压 | < 50 V | < 50 V | 适配多数电子设备的工作电压范围 |
| 接触电阻(金焊盘) | < 6 mΩ | < 6 mΩ | 镍合金尖端设计,低接触电阻确保测量精度 |
| 接触电阻(铝焊盘) | < 45 mΩ | < 45 mΩ | 兼容多种焊盘金属(金、铜、铝等),无需因材料更换探针 |
| 工作温度范围 | -40°C … +175°C | -40°C … +175°C | 适应极端环境测试,满足工业级可靠性要求 |
| 参数名称 | T250MAK(单端) | T250MSK(差分) | 说明 |
|---|---|---|---|
| 连接器类型 | 0.5 mm NMD阴头 | 0.5 mm NMD阴头 | 加固型接口设计,提升连接稳定性与耐用性 |
| 尖端材料 | 镍合金 | 镍合金 | 高耐磨性,延长探针使用寿命,确保测量重复性 |
| 尖端宽度 | 15 μm | 15 μm | 精细尖端设计,适配微小焊盘与高密度集成电路测试 |
| 间距范围 | 50、75、100 μm | 50、75、100 μm | 多规格间距可选,满足不同封装尺寸的器件测试需求 |
| 尖端配置 | GSG(单端) | GSGSG(差分) | 单端与差分配置分别适配S参数表征和高速数字应用 |
超宽带性能:DC至250 GHz的频率覆盖,结合“至DUT最短射频路径”设计,最小化插入损耗,提升信号保真度,类似西安普科PK6350在高频场景中通过电路优化实现信号优势的思路1。
机械创新:集成可伸缩/可移除尖端保护装置与探头对准引导功能,减少操作中的意外损坏,最大化设备投资价值。
兼容性与可靠性:基于TITAN™ T220系列探头技术积累,兼容主流测试系统(如Keysight 250 GHz频率扩展器),确保测量结果的可重复性与稳定性。
单端T250MAK:适用于宽带S参数器件表征、射频集成电路(RFIC)建模等场景;
差分T250MSK:针对高速数字通信(如多Gbps链路)、相控阵波束成形等差分信号测试需求优化。
通过上述参数可见,TITAN™ T250系列探针在高频性能、机械防护与兼容性上均达到行业领先水平,可满足先进器件建模、下一代通信技术等前沿领域的严苛测量需求。
为确保最佳兼容性,使用时需注意以下参数匹配:
阻抗匹配:严格遵循50Ω系统设计,避免阻抗失配导致测量误差;
功率与电压:根据型号选择DC电流(1A/2A)、电压(100V/250V)及射频功率(5W/10W@10GHz)范围,避免过载损坏设备;
频率覆盖:确保仪器频段覆盖DC至250 GHz,充分发挥探头超宽带性能优势。
通过上述兼容性设计,TITAN™ T250系列探针可无缝融入现有测试生态,为下一代半导体、通信及科研领域提供可靠支持。
以上内容均由AI搜集总结并生成,仅供参考
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