CMOS/CIS图像传感器测试系统_光传感器测试设备_产品中心

全球首台商用Image Sensor测量测试解决方案

适用于半导体领域：IC设计、封装微组装测试、模组设计

应用于：CMOS/ALS、LIDAR

完全符合图像传感器测试国际标准EMVA（European Machine Vision Association）

不仅可用来进行物理层面（表现缺陷检测）也可以用来进行功能测试（环境光下的芯片转换效率好坏）。SG-A可提供最全面的CMOS图像传感器参数报告，如全谱量子效率QE、整体系统增益、时间暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和主光线角CRA。

被测目标可以是多种类型的CMOS图像传感器模块。SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于晶圆级光学检测、工艺参数控制、微透镜设计和验证。

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可测量参数：

*无损光学检测。

*高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)

*高均匀光束点：≥ 99%。

*光的不稳定性≤1%。

*高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。

*可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益