Hanwa 全自动静电放电及闩锁效应测试机/G5000_ESD/CDM/TLP测试仪_产品中心

近年来，自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术，解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性，保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准，而是基于国际AEC-Q100系列标准而进行汽车芯片可靠性测试，其中一环节就是要对汽车芯片进行CDM和HBM的静电相关测试。

日本Hanwa-HED-G5000全自动静电放电及闩锁效应测试机HBM/MM/Latch-up测试机、HANWA ESD测试机。

简介：HED-G5000具备模拟人体放电模式（Human-Body Model，HBM）和机器放电模

（Machine Model，MM）的能力，以测试和评估封装级半导体元器件的抗ESD能力及等级，同时还支持闩锁测试（Latch-up）。

产品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自动静电破坏检测机已上市，搭载多Pin脚无继电器的GND模组（最高支持MAX2048pin），完全不受寄生电容的影响，实现高精度检测。

此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备（满足ANSI / ESDA / JEDEC规格）可用于闩锁测试，并适用脉冲电流法·电源过电压·ESD脉冲印加法。汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试

产品特性：

支持最大2048个测试通道；
模块化设计，允许在客户现场完成测试通道拓展升级；
特殊的接地设计带来超低的寄生电容，符合最新ANSI/ESDA/JEDEC JS-001规范文件对于低寄生电容设备的要求；
满足所有静电测试标准，JEDEC ，ANSI/ESDA/JEDEC JS-001 ，AEC，MIL-STD-883，GJB 等

单放电电路	新的，专门的机械GND设置低寄生电容
最大引脚	2048 pin
可与各种标准波形配合使用	这个高品质的系统符合多项国际标准包括ANSI/ESDA,JEDEC，JS-001(AEC），AEC
能与闭锁测试一起使用
操作简单可靠	更短的测试程序

技术优势：

1、适应以下国际标准波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、该系统独特的短路放电电路可通过其原始机械设计实现。
3、短路最大限度地减少电感和电容对数据的影响。
4、使用单个电路可确保每个器件引脚的数据稳定性。