光学/光通信测试_深圳市易捷测试技术有限公司

EN

联系我们

深圳市易捷测试技术有限公司

电话：0755-83698930

邮箱：dongni.zhang@gbit.net.cn

地址：深圳市福田区福虹路9号世贸广场C座1203室

关注我们

首页
解决方案

半导体测试测量

人工智能AI器件测试系统

PCB测试

光学/光通信测试

材料测试

失效分析

可靠性测试

可靠性测试-先进并行可靠性测试系统可靠性测试-一体化晶圆级/封装级测试系统

先进封装测试

芯片植球后全自动射频测试应用异构芯片RDL层双面全自动测试的应用

晶圆直流测试

直流测试-半导体参数测试系统解决方案直流测试-高功率器件测试系统直流测试-MEMS芯片压力测试系统

射频毫米波测试测量

射频晶圆测试-滤波器全自动测试系统毫米波/太赫兹晶圆级测试-全自动载片测试系统射频晶圆测试-多功能MMIC自动测试系统射频晶圆测试| 功放芯片全自动测试方案天线测量-平面近场天线测量系统

其它晶圆级测试

晶圆级抗辐射电路测试系统解决方案

PCB板高频测试系统助力开发下一代人工智能芯...

PCB电路信号完整性（SI）测量解决方案

硅光子在片测试系统

硅光子APD量子效率与参数分析系统

数字信号完整性SI-大尺寸PCB板高频测试系...

数据信号完整性SI-小尺寸双面PCB板阻抗与...

硅光子光接收器-APD量子效率与参数分析系统

单光子雪崩二极管SPAD测试系统

硅光子在片测试系统

单光子雪崩二极管SPAD测试系统

CMOS/CIS图像传感器测试系统

材料电磁参数性能测试系统

芯片ESD全自动静放电破坏测试系统

车规级芯片ESD静电测试-AEC-Q101方...

车规ESD静电测试-CDM测试系统

芯片ESD静电测试-TLP测试系统

EMMI微光显微镜成像系统

非破坏性检测-超声检测IGBT模块
产品中心

可靠性测试设备

ESD/CDM/TLP测试仪

探针台系统

Maury Tuner及配件

光传感器测试设备

全自动单DIE芯片测试机

失效分析设备

封装微组装测试设备

仪器仪表

实验室研发设备

TMS/RMS/SPT半导体可靠性测试系统

hiVIP HCE/TDDB 封装级可靠性测...

先进器件可靠性测试系统

全功能可靠性测试系统

HCI/BTI封装级可靠性测试仪

先进电子迁移可靠性

HCI/BTI/TDDB/DCEM 封装级可...

DCEM 封装级可靠性测试系统

DCEM 晶圆级可靠性测试系统

HANWA HED-C5000R CDM测试...

HED-N5000|多管脚高性能全自动静电放...

HANWA TLP静电测试仪 HED-T50...

HANWA 桌上便携式ESD测试机 HCE-...

Hanwa Electric Product...

HANWA HED-W5100D/W5300...

日本 Hanwa ESD 测试设备|HED-...

Hanwa HED-S5000R最高256p...

Hanwa 全自动静电破坏装置的高性能测试设...

东京精密TSK探针台

TSK探针台|东京精密ACCRETCH|AP... TSK全自动探针台 UF190R /UF20... 全自动探针台| 东京精密TSK探针台|FAB... 东京精密TSK全自动探针台-FP2000/F... 东京精密ACCRETCH减薄研磨机-PG30...

实验室研发型探针台

射频探针台|DC/IV测试|8英寸高低温探针... 半自动探针台|射频探针台|硅光探针台|8英寸... 高功率探针台|直流射频探针台 |晶圆级探针台... 高低温探针台|8英寸高低温半自动探针台手动探针台|PCB探针台| 300mm TS...

低温探针台

闭循环低温探针台液氮低温探针台连续流探针台磁场低温探针台超导垂直磁场低温探针台

PCB探针台

双面PCB探针台| PCB射频测试探针台 PCB探针台高频

射频探针及附件

射频探针台其它配件 220GHz 射频探针|直流/高压/射频探针... 67GHz 射频探针直流/高压/射频/光电探... 110GHz 高频探针|直流/高压/射频/光... 50GHz射频探针直流/高压/射频/光电探针...

Maury Microwave

噪声参数测试系统 AM3200 Maury Pulsed IV... Maury 负载牵引/Loadpull/矢量... Maury微波校准套件| Cal kit Maury AT系列精密衰减器

Holzworth

移相器模块高性能下变频模块低相噪放大模块低相噪分频模块低相噪鉴相模块

Noisecom

标准低温计量噪声源系统校准源 Noisecom噪声器件 NC6000A/8000A系列—AWGN噪声... J7000B系列—抖动噪声发生器

APD-QE 先进光传感器量子效率光学仪

SPD2200 (单光子雪崩二极管）效率整合...

SG-O Wafer级影像传感器晶圆级测试设...

CMOS/CIS图像传感器测试系统

GP6000全自动单芯片测试机

EMMI微光显微镜|EMMI微光显微成像系统

芯片封装焊接强度测试仪

晶圆光学检测设备

高端场扫描电镜

半导体场发射扫描电镜

ZEISS 光学微光显微镜

芯片X-ray检测系统

半导体切割机-AD2000TS/晶圆切割机|...

多功能模块装片机

芯片多功能分选机

清洗机

全自动板级植球机 MIZAR BM-4500

手动键合机

全自动晶圆挑片分选机 AP-1800

半自动挑片分选机 AP-800 Plus

多功能全自动芯片贴片固晶机 TB-1000

半自动挑片分选机 AP-601 Plus_

精密倒装芯片贴片机 CB-610

全自动芯片挑片分选机 WBS-300

超高精度倒装芯片贴片机 CB-700

高密度全自动BGA植球机 BA-1700 P...

半自动bga植球机 TBA-600

激光植球机

晶圆切割机SS20

减薄研磨机-PG3000RMX

Keysight 半导体参数分析仪| B15...

Keysight 光波元器件分析仪LCA| ...

Keysight PNA网络分析仪 N529...

Keysight PNA-X 脉冲网络仪

Keysight高清晰度示波器

Keysight信号发生器

keysight频谱仪

Keithely 4200A-SCS

高压大电流半自动探针台TS2000-HP/T...

手动探针台|实验室研发型8英寸探针台|射频晶...

微光显微成像系统

双面PCB探针台| PCB射频测试探针台

全自动探针台 | 射频晶圆测试探针台|毫米波...

全自动探针台|射频晶圆级测试探针台|8英寸探...

大功率探针台|直流射频晶圆级测试探针台|全自...

手动探针台|直流射频晶圆级测试探针台|12英...

半自动探针台| TS2000-IFE|射频探...

探针台| 12英寸半自动探针台|

高低温探针台| 12英寸半自动探针台|直流射...

半自动探针台|12英寸射频探针台|直流晶圆级...

手动探针台|6英寸手动探针台 TS150

手动探针台|6英寸太赫兹探针台TS150-T...

半自动探针台|8英寸高压探针台TS2000-...

高低温探针台|8英寸高低温半自动探针台TS2...

高功率探针台| TS3000-HP

硅光探针台| 硅光子全自动探针台TS3000...
软件中心
GBIT-BS 标准版 GBIT-RF 射频 GBIT-SiPH硅光 GBIT-HP高功率 GBIT-CM定制版
测试与租赁
关于我们
公司简介公司新闻招聘信息联系方式
成交项目|企业动态
中标项目企业动态

光学/光通信测试

半导体测试测量人工智能AI器件测试系统 PCB测试光学/光通信测试材料测试失效分析

易捷测试是全球最大测试测量公司-是德科技授权的首选系统集成方案合作伙伴。为客户创造价值，提供高效、保障、优质的本地化支持服务。

单光子雪崩二极管SPAD测试系统

专为视觉传感器，dToF LiDAR sensor 晶圆测试，LiDar SPAD 测试应用

查看详情

硅光子光接收器-APD量子效率与参数分析系统

AI芯片测试之硅光子光接收器-APD雪崩发光二极管测试解决方案。晶圆级硅光子 APD 测试的核心在于光 - 电 - 热 - 机械多场耦合的精密控制，需定制化探针台、集成光路和自动化算法。相比离散器件，

查看详情

CMOS/CIS图像传感器测试系统

应用于视觉CMOS影像传感器检测，CIS/ALS成像传感器检测

查看详情

单光子雪崩二极管SPAD测试系统

专为视觉传感器，dToF LiDAR sensor 晶圆测试，LiDar SPAD 测试应用

查看详情

硅光子在片测试系统

整合全球高瑞设备落地本土需求，为研究所，高校，光通信硅光集成芯片企业长期提供具体成效的测试系统解决方案

查看详情