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易捷测试为行业客户提供完整和高级的半导体可靠性测试系统，包括针对包装级和晶圆级可靠性特征的设计，以符合DefaTso标准。
HCI/BTI/GOI/TDDB封装级可靠性测试仪 |
| HCI/BTI/TDDB/DCEM封装级可靠性测试仪配备了JEDEC符合JEDEC的测试要求，以实现高级和准确的MOSFET HCI，NBTI，NBTI和OTF可靠性资格。 |
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| GOI/TDDB晶圆级可靠性测试仪其他快速VTDDB和多电压级别VSILC功能允许连续应力偏置，并在短时间间隔监视WLR应用程序的高分辨率时间内进行短间隔监视。 |
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