新型单光子探测器特性分析设备

SPD2200是针对最新型的单光子探测器SPD ,Single Photon Detector ,dToF LiDAR 激光雷达收发光核心芯片测试仪，常应用于dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector)光感测器（或称SPAD光电探测器，SPAD传感器）的特性测试分析设备。

单光子探测器可以对单个光子进行探测和计数，在许多可获得的信号强度仅为几个光子能量级的新兴套用中，单光子探测器可以一展身手。SPD2200是针对最新型的单光子探测器（SPD，Single Photon Detector)，如应用于dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector)光感测器的特性测试分析设备

SPD2200具备全光谱性能测试包含：

全光谱光谱响应（SR, Spectral Responsivity）
全光谱量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
全光谱光子探测率（PDP, Photon Detection Probability）
暗计数DCR（Dark Count Rate）
崩溃电压BDV（Break-Down Voltage）

SPD2200亦能够测试SPAD的单光子辨析特性分析，包含：

Jitter
Afterpulsing probability
Diffusion tail
SNR

SPD2200整合了所有先进光学与电学系统，搭配光焱科技多年光感测器测试与分析的经验，提供完整与便利的软体控制介面与分析功能。SPD2200可帮助您节省系统搭设的时间成本，并降低测试结果的不确定性。加快产品的开发周期，提升产品的竞争力。

*SPAD的暗计数与偏压关系图
*SPAD暗计数与崩溃电压
*在不同电压下SPAD光子探测效率的PDE光谱
*SPAD的Jitter测量

可测量参数：

Measurable Parameters:


Spectral Performance Test	Analysis of SPAD Single Photon Discrimination Characteristics
Spectral Responsivity(SR)	Timing jitter
External Quantum Efficiency(EQE)	Afterpulsing probability
Photon Detection Probability(PDP)	Diffusion Tail
Dark Count Rate(DCR)	SNR
Break-Down Voltage(BDV)