芯片X-ray检测系统_失效分析设备_产品中心_深圳市易捷测试技术有限公司

凭借着多年的行业经验及技术积累，我们可以为客户提供半导体测试系统解决方案。YXLON X射线检测机被设计用于为SMT，半导体和实验室封装应用领域提供同级别产品中先进的检测解决方案。通过优异软伯和硬件，EVO系统有比同类更高品质且可重复的结果。

检测类别：SMT和PTH封装、印刷电路板、IGBT、晶圆检测、三维集成电路、传感器、MEMS和MOEMS,TSV。

微焦点X-ray产品

COUGAR	CHEETACH

SMT配置 µCT-能力包括快速扫描倾斜角度观察平板探测器 16位的实时影像处理	高速平板探测器 µCT-能力大尺寸样品的检查 Zoom+技术 Power driver技术 16位的实时影像处理

微焦点X-ray产品

	Cougar 规格配置：
	球管类型	开放式多焦点球管（三种操作模式：微焦点/纳焦点/大功率）
	球管电压范围	20KV~160KV
	球管最大功率/靶最大功率	64W / 10W
	最小探测能力	<500 nm
	最大几何/系统放大倍数	2000X /10000X
	X射线强度控制方式	TXI (真实X光强度控制技术)
	探测器	1308高解析平板探测器
	像素	1012 X 1032像素
	Cheetah 规格配置：

	球管类型	开放式多焦点球管（三种操作模式：微焦点/纳焦点/大功率）
	球管电压范围	20KV~160
	球管最大功率/靶最大功率	64W / 10W
	最小探测能力	<500 nm
	最大几何/系统放大倍数	2000X /17000X
	X射线强度控制方式	TXI (真实X光强度控制技术)
	探测器	1313高解析平板探测器
	像素	1004 X 1004像素
	最大可视面积（FOV）	102X102mm