HANWA HED-C5000R CDM测试设备 _ESD/CDM/TLP测试仪_产品中心

日本HANWA ESD-CDM测试仪：

ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。适用于汽车电子AEC-Q100标准，车规级集成电路可靠性静电HDM/CDM测试.。

HED-C5000R台式尺寸、紧凑、准确、可靠的 CDM 测试仪。配备CCD相机、符合国际标准JEDEC、ESDA、AEC、JEDEC、EIAJ）提供 FI-CDM 和 D-CDM 两种模式。可测量各引脚电容........

该系统采用自主研发的放电电路单元更换，支持国内外各种标准的测试方法。此外，对于2015年4月正式发布的“ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014”放电波形参数的施加单元，也能够兼容。

1）满足JS-002，JEDEC，ESDA，AEC，ANSI / JEDEC JS002-2014等全球CDM模型测试规范

2）测试电压最高可达4KV，为同类型机台最高

3）供应商为JS-002规格制定委员会成员，技术可靠

4）硬件软件的使用操作简单，容易上手，为全球半导体Leading company的推荐使用机型

5）唯一具有D-AEC充放电功能的CDM测试机台

6）它可以是用氮气干燥空气的温度和湿度控制。

7）PIN目的地的可视化，在由CCD照相机的所有的测试方法，可见对设备的访问的PIN目的地。

8）对应于各种设备的形状。（测量可动范围80毫米×200毫米）

9）外加电压范围+/- 10V〜4000V +/-（+/- 5Vstep）

符合所有主要国际标准:

Standard

Standard Number

Method

Calibration tool

ESDA/JEDEC

Joint Standard

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014

FI-CDM

Small/Large coin(disk)

JEDEC

JESD22-C101F

FI-CDM

Small/Large coin(disk)

ESDA

ANSI/ESD S5.3.1-2009

FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2)

AEC

AEC - Q100-011 Rev-C1

FI-CDM or D-CDM

FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2)

JEITA

JEITA ED-4701/302 (Method 305C)

D-CDM

Small/Large coin(disk)

FR-4 board

HED-C5000R

Hanwa CDM测试机

l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），

l 可快速转换不同标准的测试

l 台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。

l 配备的CCD摄像机

l 提供FI-CDM和D-CDM模式。

l 可以测量每个引脚的电容。

尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size

CDM 测试机

此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备

产品名/型号	设备说明
HED-C5000R	此设备是符合日本及国际标准的高可靠性设备（满足JEITA / ESDA / JEDEC规格）可通过交换放电电路组件支持日本国内及国际的测试规格可测量器件的各个端子的容量,测试数据可保存为文本文件形式