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半导体可靠性测试
HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统
发布时间:2026-07-04



HCE/HTRB/HTGB可靠性测试系统设计用在支持精确的低压和高压应力偏置,以满足DMOS,IGBT和功率MOSFET的测试需求。功率器件可靠性应用包括HCE、HTRB和HTGB的安全操作区(SOA)分析。高功率半自动测试探针台,确保精密器件特性、晶圆级可靠性和故障分析、高速器件晶圆分类等可信赖的测量。

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