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HANWA TLP静电测试仪 HED-T5000 TLP/VF-TLP
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
产品概述：
传输线脉冲（TLP）测试可以完整的模拟线上脉冲放电，针对半导体晶圆，封装后的芯片，功率器件的静电放电模型的保护电路的测试和评估，并根据数据绘制电压电流击穿特性曲线，以得到研发人员需要的各项重要参数（Vt1,It2,Ron等）。利用测试数据可以指导ESD保护电路的可靠性设计，并研究不同类型ESD结构的特性，改善ESD保护电路的设计。
产品特点：
T5000普通型和 VF（非常快）模型。VF 型号提供正常（100nm/200nm）和 VF（1nm-）脉冲宽度。可选的自动化测试与半自动探针台整合可显着提高生产力。可与HED-W5000组合，ESD（HBM、MM）测试仪高电流输出型号（T5000-HC）现已上市。
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP传输线脉冲测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
高可靠性设计，低使用成本
国内外大型半导体企业有多年合作经验，是TSMC、SUMSUNG优先采购机型
搭配半自动探针台、全自动探针台升级可实现自动化测试。
TLP（传输线脉冲）检测仪可以得到半导体中保护电路的活度参数。 为了提高ESD耐压性能，需要分析保护电路。测试结果中包含了许多有用的信息，节省了半导体开发过程的时间。 |
HEC-T5000/T5000-VF
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产品介绍：
TLP测试中最先进的测试模式 | NTLP（正常的TLP）和VFTLP（非常快的TLP/短脉冲型TLP）类型都提供给我们的客户。正常型TLP的脉 冲宽度为100ns/200ns，VFTLP为1ns。这些功能可用于验证HBM/MM测试模式下的ESD耐压。 |
使用功能强大的监视器来支持分析 | TLP测试仪中包含的示波器允许确认一个到设备的入射波和一个来自设备的反射波。入射波和反射波自 动保存后，显示在专用显示器上。专用监视器显示入射波和反射波，以及通过跟踪进行Vf/Im测量的总 反弹特性和泄漏测量值。 |
特征数据的差异显示 | 从示波器保存的数据允许具有较高灵活性的算术过程。它们可以在差分过程中显示晶体管的接通电压 或在保护电路中的最大电流值同时显示为多个轨迹。可以确认每个轨迹的差值。 |
连接到晶片ESD测试仪 | TLP测试仪可连接晶圆ESD测试仪，可实现自动测量。自动测量和自动转移到下一个zap引脚和晶圆片 上的下一个芯片，可以提高测试效率。 |
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