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HANWA HED-W5100D/W5300D全自动晶圆ESD测试机
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。
日本 Hanwa esd 晶圆级测试解决方案
HED-W5100D /W5300D
全自动晶圆ESD测试机
全球唯一可测试12英寸 300mm晶圆ESD全自动静电测试机台。
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
HBM波形满足JS-001，JEDEC，ESDA，AEC，JEITA以及GJB等全球所有静电测试规范
全球半导体晶圆制造LEADING COMPANY 青睐机台，该系列产品在全球范围广泛使用
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
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