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Maury Microwave
噪声参数测试系统

噪声参数测试系统

产品简介:Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声特性常用的品质因素,降低噪声系数可以减小噪声对系统信噪比造成的影响,描述变化关系引入噪声参数来表征噪声器件的特性的测试
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸

产品简介:

Maury 噪声参数测试系统的噪声系数是衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声特性常用的品质因素,降低噪声系数可以减小噪声对系统信噪比造成的影响,描述变化关系引入噪声参数来表征噪声器件的特性的测试系统。


系统说明:

Maury的噪声参数测量系统集成了噪声接收机,阻抗调配器,网络分析仪,系统测量软件以及相应的噪声输入和输出模块,其中输入和输出噪声模块(Noise Switch Module和Noise Receiver Module)在紧凑的空间内集成了低噪放(NRM),下变频器件(对于毫米波频段),T型偏置和开关,与PNA-X或者是噪声分析仪只需要直接连接即可以简便地完成整个系统的搭建,同时内置的LNA模块可以将系统噪声接收机噪声系统降低5~6 dB,大大增加系统的测量准确性和可靠性,为用户超快速且精准地完成噪声参数测试。

技术优势:

1、系统的测量性和可靠性大大提高

2、测试所需时间较短且精准度高

应用方向:

主要适用于衡量低噪声器件或者噪声放大器噪声特性。