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ESD/CDM/TLP测试仪
Hanwa HED-S5000R最高256pin ESD测试仪

Hanwa HED-S5000R最高256pin ESD测试仪

Hanwa HED-S5000R全自动HBM/MM/Latch-up测试机(256pin)基本信息:通过与曲线示踪剂的连接,该测试仪可以做出破坏判断。◆在该功能中,升级为自动测试系统是可能的
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸

Hanwa HED-S5000R全自动HBM/MM/Latch-up测试机(256pin)

基本信息:

通过与曲线示踪剂的连接,该测试仪可以做出破坏判断。


◆在该功能中,升级为自动测试系统是可能的。


◆从以下型号中选择测试引脚编号和测试应用程序。


产品特点;


单放电电路:全新专用机械GND设置超低寄生电感和电容


最大256引脚


可与各种标准波形配合使用这种高品质的系统符合多项国际标准 :包括JEDEC、ESDA、AEC和JEITA


能与闭锁检测一起使用码操作简可靠,


测试程序更短


技术优势:


1、可以通过连接曲线图示仪来轻松地判断pass/fail


2、可根据测试管脚数以及测试用途来选择型号

应用方向:

主要应有于HBM、MM、Latch-up方面。


设备名称:ESD闩锁测试系统

设备型号: HED-S5000R/HED-C5000R

厂 家:HANWA ELECTRONICIND.CO.,LTD

设备编号:18503446

设备分类:可靠性测试

设备功能简介:

模拟人体模式(HBM)、机器模式(MM)以及器件充电模式(CDM)对样品进行静电敏感度的测试,同时具备Latch up的测试功能。



设备性能指标:

1、 HBM脉冲电压:±10V~±8000V,电压步进:5V~8000V,测试最大pin脚数:128pin;

2、 MM脉冲电压:±10V~±4000V,电压步进:5V~4000V,测试最大pin脚数:128pin;

3、Latch up测试,电流脉冲:±5mA~±1000mA,电流步进:1mA~1000mA,电压脉冲:0V~±100V,电压步进:0.1V~100V,测试最大pin脚数:128pin;

4、CDM充电电压:0V~±4000V,电压步进:5V~4000V,最大pin脚数:1024pin。


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