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Keysight高清晰度示波器

MSOS804A高清晰度示波器

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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述

产品规格表

外形尺寸

8 GHz带宽
4个模拟和16个数字通道
借助我们先进的系统架构，实现高达16位的垂直分辨率
以最大20 GSa / s的采样率和100 Mpts /通道的标准内存捕获更长的信号轨迹
在全带宽下，平均系统ENOB为8.1位，从而获得卓越的信号完整性
支持多点触摸的15英寸电容触摸屏和固态驱动器提高了可用性，可实现快速启动和可靠性
使用广泛的协议，合规性和分析软件来改善测试

技术指标：

带宽	8 GHz

带宽升级	不适用
频道	4 + 16
最大记忆深度	800 Mpts（2通道），400 Mpts（4通道）
最大采样率	20 GSa / s（2通道），10 GSa / s（4通道）
显示屏尺寸	不适用
波形更新率	不适用
ADC位	10位
本底噪声	不适用
有效位数（ENOB）	不适用
典型的上升/下降时间	不适用
特殊触发器	不适用
操作系统	不适用
最大垂直分辨率	16位

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