日本 HANWA ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。

最先进齐全半导体ESD测试实验室常备设备解决方案。该系列设备测试包括人体模型（HBM）、机器模型（MM）、充电设备模型（CDM）、传输线脉冲（Normal&VF TLP)和闩锁测试（Latch-up)、系统级静电放电模式（ESD GUN）

1）HBM、MM、Latch Up测试设备解决方案

2）TLP测试设备/传输线脉冲发生器

现在可以对封装和晶圆进行 ESD 测试！

HED-W5000M 晶圆ESD测试机

l 价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。

l 专用软件可用于泄漏测量和判断。

l 适用于大多数类型的手动探针台。

功能特点：

1. 可显示真实设备的 ESD 波形

2. 可在放电后自动对 V/I 测量值进行破坏性评估，性价比极高。

3. 执行 HBM/MM 电晕（符合 JEDEC/ESDA/JEITA）。

4. 用两根针连接任何设备，如晶圆。

5. 可在客户的手动 PROBER 上安装斩波装置。

6. 包装设备的测试结果一目了然。

操作屏显示案例：

Wafer ESD 测试机系列

Wafer ESD 测试机产品系列

此设备是可以在Wafer level上进行HBM,MM测试的设备

产品名/型号	设备说明
HED-W5100D	全自动 Wafer ESD测试机从LED到系统LSI的大口径Wafer，可适用于HBM和MM的放电 ESD印加后，可根据漏电流测试判断pass/fail 并且可以与ESD测试有关联性的TLP测试设备进行组合测试对ESD测试中发生问题的器件，能有效取得保护电路中的工作参数是满足日本、国际标准的高可靠性设备。（满足JEITA/ESDA/JEDEC规格）
HED-W5000M	高性能半自动Wafer level ESD测试机通过操作探针座，可以轻松地决定两个管脚之间的位置在印加脉冲后，可以通过漏电流测试判断pass/fail。
HED-W5000M-SP0	Low Cost Wafer ESD Tester 低成本、高性能可通过开放控制软件构建广泛应用程序
HED-W5000M-WFC	Wafer level ESD测试机在对集成电路中保护电路工作参数的收集与分析上，虽然TLP测试机起到了很大的作用，但是在半导体制程细微化的发展中，为了提高对ESD的抵抗性，保护电路需要更快的研发速度 HED-W5000M-WFC测试机，因其可以观测到被印加到器件上的实际的ESD波形，所以有助于收集、分析保护电路参数以及缩短研发速度