先进的在片测试系统集成企业

深圳市易捷测试技术有限公司，（品牌GBITEST），是一家专注在半导体晶圆级测试系统、失效分析设备、封装级测试设备领域，为您提供一站式解决方案技术型服务企业。公司主要面向半导体研发企业、半导体制造晶圆Fab厂、DESIGN HOUSE、科研院所研究院、大学高校，专业提供各式探针台系统、半导体测试软件、探针台升级改造服务，射频微波毫米波测量仪器、硅光晶圆测试系统、光学传感器测试系统、半导体可靠性测试系统、异构芯片测试系统、单模块高低温FT测试系统、失效分析设备~EMMI微光显微镜、TLP测试设备，CDM测试等芯片静放电测试系统解决方案。可满足实验室研发和晶圆Feb厂量产的多种需求。十几年来，公司一直专注于半导体测试设备领域，积累了丰富的实操经验，赢得了行业口碑。

我们专业的系统集成方案广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光学器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD/TLP/CDM测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域。

公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作，携手Keysight、Maury Microwave、ACCRETECH东京精密、HANWA、mpi c等优秀厂商，助力半导体企业/研发机构高效稳健地实现科技产品从研发到上市。

易捷测试成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和全方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。服务的应用领域包括：半导体、人工智能、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等领域。

 现有方案主要包括：晶圆级直流测试解决方案、射频微波/太赫兹/毫米波高频晶圆级测量解决方案、硅光晶圆级测试解决方案、大功率半导体测试、MEMS压芯片测试解决方案、激光雷达关键器件SPAD测试系统解决方案、光学器件CMOS/CIS在片测试系统、高低温环境下的EMMI测试系统、5G系统的计量测试、X光辐照总剂量在片测试系统、车规/家电等ESD测试设备、TLP测试系统、CDM测试机解决方案等。

易捷测试有硬件服务，也为客户提供在片测试软件设计，随着5G无线通信、物联网的发展普及以及雷达、航天航空、精确制导等系统的不断发展。射频毫米波集成电路的需求将大大提高，同时质量和品类多样性的要求也越来越高。射频前端全自动在片测试是集成电路生产测试（WAT测试和CP测试中非常重要的工序。易捷自主研发的RF全自动在片测试系统软件能兼容多个系统更好地运作，并已经在中电55所、中电13所、南京大学、浙江大学、天兵电子等企业及科研机构均得到了应用，我们的软件获得客户广泛的认可和称赞。