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全自动探针台| 东京精密TSK探针台|FAB厂常用探针台UF3000EX
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
Accretech UF3000系列 全自动探针台，采用与UF3000EX同样的基本结构。高精度、低成本、高性能的探针台。
自动晶圆探测机（以下简称探测器）UF3000EX-e的设计具有以下特点，用于LSI和VLSI。
●应用于大直径晶圆（φ300 mm，高达12英寸） ●自动操作系统 ●清洁环境 ●高精度探测 ●高通量 ●低振动 ●高刚度级多位点探测 |
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采用新开发的专有XY驱动系统，实现了高速，低振动。
与现有产品相比，考虑到环境因设计变化而实现的占地面积小，功耗降低10％
从高温到低温采用的测试环境
用于测试头的铰链式机械手
低噪音测试环境
高压测试环境
种类繁多的网络环境
针道检查功能
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