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国产探针台|GBITEST直流射频测试手动探针台|定制探针台
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
8英寸手动探针台应用：专门为升级和扩展所设计的各种选项，可轻松实现如负载牵引系统、太赫兹系统、辐照系统、1/f噪声等系统的搭载，该探针台系统也可根据您的未来项目需求进行重新配置。 GBITEST-200拥有稳定且可靠的测试平台，保证测试中的扎针质量。优异的光学系统结合分辨率＜2μm的针座系统，确保扎针的稳定性。在直流应用中，GBITEST-200高品质的电缆和三轴信号通路，可使DUT特性分析达到Fa 标准；射频应用中，通过缩短扩频模块与探针之间连接器的距离，可高效且更好地实现THz内器件高品质参数的提取。优益的三轴低漏点载物台的选件，能够给器件测试带来更多的信心。
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