HANWA 桌上便携式ESD测试机 HCE-5000_ESD/CDM/TLP测试仪_产品中心

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ESD/CDM/TLP测试仪

HANWA 桌上便携式ESD测试机 HCE-5000

独立的ESD测试系统（不用PC和曲线示踪剂）。Hanwa 紧凑型ESD测试仪改进版

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产品概述

产品规格表

外形尺寸

芯片ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试/失效分析期间进行。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。

Hanwa HCE-5000：

超紧凑型便携式ESD测试机（HBM，MM，HMM）测试仪

l 独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比高

l 不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试

l 适用于现场测试。配有曲线跟踪器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。

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Hanwa紧凑型ESD测试仪是独站的ESD测试系统，设计改进为紧凑、灵活性和可携带的桌上设备。从而节少了空间和成本。能够操作HBM、MM和泄露测量，无需PC和曲线追踪剂。

返回列表

通过触摸屏-面板界面，操作方便	可以设置没有PC
基于各种标准	满足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA的HBM/MM
泄露和曲线跟踪	有能力判断之前/之后。方法1：变更总量方法2：绝对值
HBM快速/缓慢单元（可选）	可以改变实验和测量的上升时间吗？快速上升时间=2-3ns，缓慢上升时间=8-10ns(std=5-7ns)