自动探针台新品升级：TS2000-IFE 系列：

TS2000-IFE 是一个多功能自动化探针台，可以从使用一开始或在测试领域内任何需要时转换为带有 Waferwallet MAX 的可用于实验室研发专用全自动探针台。主要应用在负载拉动、RF、mmW、硅光子学、设计验证（产品工程）或在定义的测试环境中测试 MEMS 和其他传感器。

产品简介：

我们推出用于太赫兹应用的 200 毫米自动探针台系统。

我们提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自动探针台系统。THZ-Selection 是一种专用的射频、毫米波、太赫兹和负载牵引探针台，在 -60 至 300 ºC 的宽工作温度范围内不会影响测量方向性。它基于最通用的 200 毫米平台 - TS2000-IFE 系列。

200 毫米晶圆的自动化在片测试探针台系统常用来执行以下操作：

无需额外的 S 波段波导，尤其是在亚太赫兹或太赫兹范围内。
最小化负载牵引应用的信号路径并提供最宽的调谐范围和最高GAMMA。
切换频段时操作简单方便。

专有的 IceFreeEnvironment 技术允许 THZ-Selection 在微定位器和探针卡的帮助下在负温度下运行。该测试系统能够通过具有可编程微观运动的集成探针控制提供晶圆级可靠性。主动隔振缓冲了测试过程中振动误差的发生。这些功能支持自动化测试，没有任何错误余地，并且具有可验证的准确性。

通过以下方式自动测试 200 毫米晶圆：

无需额外的 S 波段波导，尤其是在亚太赫兹或太赫兹范围内，大限度地减少负载牵引应用的信号路径，并提供较宽的调谐范围和较高的 Gamma，频段切换时操作简单方便，THZ-Selection 采用频率扩展器集成创新设计，最初是为TS200-THZ开发的，它将扩展器悬停在整个 200 毫米晶圆上。

技术优势：

1、可自动测试 200 毫米晶圆

2、频段切换时操作简单方便

3、测量精度和准确度大大提高

应用方向：

测试200毫米晶圆。

产品特点：

专为各种在线应用而设计

• 直流-IV/直流-CV/脉冲-IV应用

• 硅光子学

• 射频，毫米W，负载拉应用和4端口设置

• 集成电路设计验证，在-60~300°C宽温度范围内的失效分析

• 晶圆级可靠性扩展灵活性

扩展的灵活性

• 无冰环境™用于同时使用微型定位器和探针卡，即使在负温度

• 可编程显微镜运动，以更自动化和易于使用

• 到IC测试仪的最短电缆接口

• 最大限度地减少毫米W和探测与主动探针的板到吸盘的距离

• 支持胶片帧探测

人体工程学设计和足迹

• 简单的晶片或单个DUT从前面加载

• 集成主动隔振

• 完全集成Prober控制，用于更快、更安全、更方便的系统和测试操作

• 具有自动露点控制的安全测试管理(STM™

• 减少足迹，因为智能冷水机组的空间安排

仪表架选择较短的电缆和更高的测量动态