深圳市易捷测试技术有限公司
深圳市易捷测试技术有限公司
电话:0755-83698930
邮箱:dongni.zhang@gbit.net.cn
地址:深圳市福田区福虹路9号世贸广场C座1203室
芯片多功能分选机
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分选,切换更灵活。支持芯片视觉2D检测,焊头恒力控制,芯片分选更可靠。
1.丰富的InAsP,GaAs,GaNg,SiC等高价值特种芯片分选经验
2.可针对大薄芯片分选进行特殊定制优化设计,确保分选万无一失
3.具备视觉缺陷检测
4.支持设备联网、支持SECS/GEM协议
Auto Optical Inspection Supoort 附加AOI功能,自动检测芯片崩边,缺角、脏污 | Special Chip(InGaAs, InP, Thin die etc.) Support 支持脆弱芯片(InGaAs,InP,GaN,etc)和长芯片(宽:长=1:7)取放 | Both Wafer-to-Tray and Tray-to-Wafer Support 支持多种载具(蓝膜、芯片盒等)确保芯片分选精准高效 |
设备型号 | RX2000 | |
设备性能 System Capability | 装片精度 XY Placement | ±38μm |
角度 Angular Placement | ±3° | |
UPH | Up to 4 K | |
支持产品规格 Material Handing Capability | 芯片尺寸 Die Size | 0.2mm to 7mm (8mil-280mil) 90μm to 1000μ |
分选方式 Pick & Place | Wafer to Gel-Park Wafer to Wafer Gel-pak to Gel-pak Gel-pak to Wafer | |
晶圆台 Wafer Stage | 晶圆尺寸 Wafer Size | Max 8 inch |
设备尺寸 Dimensions | 重量 Weight | 800 Kg |
长x宽x高 W x D x H | 1100×1450×1600mm |
© 2024 Copyright 深圳市易捷测试技术有限公司 版权所有