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封装微组装测试设备
芯片多功能分选机

芯片多功能分选机

支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分选,切换更灵活。支持芯片视觉2D检测,焊头恒力控制,芯片分选更可靠。
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸

支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分选,切换更灵活。支持芯片视觉2D检测,焊头恒力控制,芯片分选更可靠。


RX 2000 /芯片多功能分选机

1.丰富的InAsP,GaAs,GaNg,SiC等高价值特种芯片分选经验

2.可针对大薄芯片分选进行特殊定制优化设计,确保分选万无一失

3.具备视觉缺陷检测

4.支持设备联网、支持SECS/GEM协议


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Auto Optical Inspection Supoort


附加AOI功能,自动检测芯片崩边,缺角、脏污

Special Chip(InGaAs, InP, Thin die etc.) Support


支持脆弱芯片(InGaAs,InP,GaN,etc)和长芯片(宽:长=1:7)取放

Both Wafer-to-Tray and Tray-to-Wafer Support


支持多种载具(蓝膜、芯片盒等)确保芯片分选精准高效






设备型号

RX2000

设备性能

System Capability

装片精度  XY Placement±38μm
角度  Angular Placement±3°
UPHUp to 4 K

支持产品规格

Material 

Handing Capability

芯片尺寸  Die Size

0.2mm to 7mm (8mil-280mil)

90μm to 1000μ

分选方式

Pick & Place

Wafer to Gel-Park

Wafer to Wafer

Gel-pak to Gel-pak

Gel-pak to Wafer

晶圆台 Wafer Stage晶圆尺寸  Wafer SizeMax  8 inch

设备尺寸

Dimensions

重量 Weight800 Kg
长x宽x高  W x D x H1100×1450×1600mm