深圳市易捷测试技术有限公司
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半自动探针台| TS2000-IFE|射频探针台|8寸自动测试探针台
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
自动探针台新机:TS2000-IFE 系列
TS2000-IFE 是一个自动化探针台,可以从使用一开始或在测试领域内任何需要时转换为带有 Waferwallet MAX 的全自动探针台。主要应用在负载拉动、RF、mmW、硅光子学、设计验证(产品工程)或在定义的测试环境中测试 MEMS 和其他传感器。
产品简介:
我们推出用于太赫兹应用的 200 毫米自动探针台系统。 我们提供其200 mm TS2000-IFE THZ-Selection 自动探针台系统。THZ-Selection 是一种专用的射频、毫米波、太赫兹和负载牵引探针台,在 -60 至 300 ºC 的宽工作温度范围内不会影响测量方向性。它基于 MPI 最通用的 200 毫米平台 - TS2000-IFE 系列。 200 毫米晶圆的自动化在片测试探针台系统常用来执行以下操作:
MPI 专有的 IceFreeEnvironment 技术允许 THZ-Selection 在微定位器和探针卡的帮助下在负温度下运行。该测试系统能够通过具有可编程微观运动的集成探针控制提供晶圆级可靠性。主动隔振缓冲了测试过程中振动误差的发生。这些功能支持自动化测试,没有任何错误余地,并且具有可验证的准确性。 |
产品特点:
专为各种在线应用而设计• 直流-IV/直流-CV/脉冲-IV应用 • 硅光子学 • 射频,毫米W,负载拉应用和4端口设置 • 集成电路设计验证,在-60~300°C宽温度范围内的失效分析 • 晶圆级可靠性扩展灵活性 | 扩展的灵活性 • MPI无冰环境™用于同时使用微型定位器和探针 卡,即使在负温度 • 可编程显微镜运动,以更自动化和易于使用 • 到IC测试仪的最短电缆接口 • 最大限度地减少毫米W和探测与主动探针的板到吸盘的距离 • 支持胶片帧探测 | 人体工程学设计和足迹• 简单的晶片或单个DUT从前面加载 • 集成主动隔振 • 完全集成Prober控制,用于更快、更安全、更方便的系统和测试操作 • 具有自动露点控制的安全测试管理(STM™ • 减少足迹,因为智能冷水机组的空间安排 仪表架选择较短的电缆和更高的测量动态 |