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220GHz 射频探针|直流/高压/射频探针台-直流到
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
| 提示材料 | 镍合金 |
| 地面和信号对准错误 | < +/- 3 μm |
Contact footprint width | 15 μm |
Contact resistance on Au | < 6 mΩ |
| Al的接触电阻 | < 60 mΩ |
| 热力范围 | -55 ºC ... +150 ºC |
| 音高範圍 | 50 μm, 75 μm and 100 μm |
提示配置频率 范围 | GSG DC到220千兆赫 |
| Connector (连接器） | V (1.85 mm) |
| Pitch range | 50um to 250 um |
| Standard pitch step | 25um |
| 建议配置 | GSG |
| Connector angle | V-Style:90-degree A-Style:45-degree |
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