易捷测试光电测试MPI探针台系列一览表_公司新闻_关于我们

深圳市易捷测试技术有限公司面向光电行业的全流程测试探针台设备一览，覆盖从研发到量产的全环节需求，目标是成为“一站式光电测试解决方案提供商”。适用于级别有Wafer、Bar、Die、Package。

级别与应用	Wafer	Bar	Die	Package	特点
手动探针台研发级	TS150-AIT TS200-THZ, IFE, SE	TS150-AIT TS200-THZ, IFE, SE	TS150-AIT TS200-THZ, IFE, SE	TS150-AIT	操作灵活，成本较低，适配小样本研发
半自动探针台研发级	TS300-THZ, IFE, SE	TS300-THZ, IFE, SE DTS600	TS300-THZ, IFE, SE DTS600	DTS600	兼顾研发灵活性与测试效率
全自动探针台研发级小批量产	TS2000-IFE, SE TS3000, IFE, SE TS3500, IFE, SE TS3000-DS TP80-LV / T120-LV FP80-WA+LS800 FP80-T TP60-NS	TS2000-IFE, SE TS3000, IFE, SE TS3500, IFE, SE DTS650 TP80-LV / T120-LV FP80-WA+LS800 FP80-T TP60-NS	TS2000-IFE, SE TS3000, IFE, SE TS3500, IFE, SE TS3000-DS DTS650 TP80-LV / T120-LV FP80-WA+LS800 FP80-T TP60-NS	TP80-LV / T120-LV FP80-WA+LS800 FP80-T TP60-NS	全自动流程，可快速复制测试方案
全自动探针台量产级批量生产	TS3500-DS	DTS650-DI	DTS650-DI	Roadmap	专为大规模量产设计成熟器件规模化生产，月产数千级芯片
自主化探针台小批量/大批量	/	/	/	/	全流程自主运行，无需人工干预

跨场景适配：部分产品覆盖多种器件形态，例如：

DTS600 支持Bar/Die/Packaged三种形态测试，适配从切割到封装的全流程
TS3000-DS 覆盖Wafer/Die两种形态，满足从晶圆到裸芯片的测试需求