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芯片静电放电ESD测试
发布时间：2026-01-21



TLP


常用半导体ESD实验室测试主要设备：

HANWA HED-G5000


全自动抗静放电破坏测试机

HBM/MM抗静放电破坏全自动ESD测试机

测试能力：

  • 支持HBM及MM的封装级测试

  • 放电电压，HBM 8KV.....

  • 可定制夹具，支持多种封装测试

HANWA HED-C5000R

CDM测试仪

CDM（Charged-Device Model,带电器件模型）测试，是针对半导体与电子元器件的关键ESD可靠性测试

测试能力：

  • 支持芯片封装级CDM模型

  • 引脚数可支持256PIN适合中小封装，512/1024pin适合CPU/GPU/SOC等复杂芯片

HANWA HED-TLP-T5000-HC

TLP测试仪

TLP分普通型和VF型，高电流型，传输线脉冲测试

测试能力：

  • 支持半导体晶圆级和封装级,模块级

  • 半导体静放电保护电路测试和评估

  • 可与半自动探针台连接实现自动化测试

HANWA HCE-5000


手动便携式ESD测试机

HBM/MM手动测试

测试能力：

  • 支持封装级测试

  • HBM:8KV,MM:4M

  • 配合多种手动夹具

KEITHLEY 4200A-SCS

半导体参数分析仪


200V1A1V特性测试，10KHz 到10MHz CV测试

Keysight B1500A

功率器件测试分析仪


3KV20A, IV/CV特性测试等



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