高压大电流探针台-易捷测试山东大学半自动高压测试系统中标_成交案例_成交项目|企业动态

成交中标项目：

易捷测试中标山东大学半自动高功率探针台采购项目

半自动高压测试系统

MPI

TS2000-HP

探针台介绍：高压大电流半自动探针台_实验室研发设备_产品中心_深圳市易捷测试技术有限公司

山东大学

采购方：山东大学是一所历史悠久、学科齐全、实力雄厚、特色鲜明的教育部直属重点综合性大学，在国内外具有重要影响，1997年进入国家“211工程”建设序列，2001年被确定为国家“985工程”重点建设的高水平研究型大学，2017年迈入世界一流大学建设高校行列。

易捷测试LOGO彩色

供应方：易捷测试技术~是德科技的首选合作系统集成企业，公司以深圳，南京为中心向全国设有多个业务服务站。易捷测试多年以射频毫米波测试测量系统解决方案为主线，逐渐业务扩展到多个半导体领域，目前公司的系统与设备已全面覆盖到半导体测试测量多个领域，包括：RF/mmW/THz、DC/IV，大功率器件，光学传感器/光通信-硅光，芯片ESD/TLP/CDM，MEMS，信号完事性PCB板，失效分析，芯片可靠性测试，封装测试，WAT/CP。

易捷测试技术为致力于为国内用户提供可交付的更灵活，高效的，具有竞争力的半导体实验室研发，半导体量产所需要的测试解决方案。

产品简介：

探针台图

TS2000-HP 高功率射频晶圆级探针台系列中的产品之一，高功率探针台可满足半导体载片晶圆级高功率（高压大电流）静态测试，MPI高功率器件表征系统专为晶圆上的高功率器件测试而设计。这些系统支持高达3千伏的三轴/10千伏同轴和600安培（脉冲）的精确测量，同时提供低噪声、全屏蔽的测试环境。对薄片Taiko Wafter也相当友好，并可提供全温度区域的测试环境。

以下是常用的高功率探针台系统：

高压手动探针台（6英寸/12英寸）：TS150-HP/TS200-HP	MPI高功率器件表征系统专门用于晶圆上的高功率器件测试。MPI TS150-HP和TS200-HP探针系统提供完整的150毫米和200毫米晶圆解决方案。它们设计用于在宽温度范围内实现功率半导体的低接触电阻测量。
高功率半自动探针台8英寸：TS2000-DP	TS2000-DP是MPI推出的一款多功能且经济高效的探针台，适用于在20°C至300°C温度范围内进行晶圆上高功率器件测量，测量能力高达3千伏（三轴）/10千伏（同轴）和600安培（脉冲）。它集成了先进技术，如可选或现场升级的PHC™技术。
高压半自动探针台8英寸：TS2000-HP	MPI的自动化TS2000-HP提供了在宽温度范围内可靠的晶圆高功率器件测量能力，测量范围高达3千伏（三轴）/10千伏（同轴）和600安培（脉冲）。先进的ShielDEnvironment™提供了低噪声和屏蔽测试环境。它集成了先进专利技术，如VCE™、mDrive™和PHC™，可作为选配或在现场升级。
高功率12英寸半自动、全自动探针台：TS3000-HP，TS3500-HP	TS3000-HP和TS3500-HP是MPI推出的两款新型专用探针台，适用于在宽温范围（-60°C至+300°C）和宽测量范围（3kV（三轴）/10kV（同轴）及600A）内进行高功率器件的晶圆表征。两款系统均可选择用于薄晶圆或Taiko晶圆测试。这两款系统均集成了ShielDEnvironment™技术，可实现超低噪声测量，并且TS3500-HP配备了WaferWallet®，是应对更高生产需求的理想选择（效率提升高达10倍），并支持全自动晶圆处理，如150mm SiC、200mm GaN以及300mm SiGe晶圆。
全自动探针台（量产型）8英寸-TS2500	MPI TS2500系列并非带有装载器的工程探针站，该系列专门设计用于准确可靠的24/7生产测试。主要应用包括直流/恒定电压、射频、高功率或在定义测试环境下对MEMS和其他传感器的测试。TS2500-SE集成了MPI市场上最佳的ShielDEnvironment™技术，提供无与伦比的防光和电磁屏蔽，以实现精确的超低直流和射频噪声测量。