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标准低温计量噪声源系统

标准低温计量噪声源系统

噪声源标准系统 频率范围:18GHz~500GHz系统特点:1. 18 GHz - 500 GHz频率范围2. 可更换的频带(只需要增加很少的费用)3. 低压液氮自动填充4. 控制器可显示噪声温度和精
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸


噪声源标准系统 频率范围:18GHz~500GHz
系统特点:
1. 18 GHz - 500 GHz频率范围
2. 可更换的频带(只需要增加很少的费用)
3. 低压液氮自动填充
4. 控制器可显示噪声温度和精度
5. 可选临时负载和开关

典型应用:
1. 噪声源校准
2. 辐射仪测试和验证
3. LNA噪声系数测试
4. 卫星通信地面站一致性验证
5. 天线系统噪声温度测试

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