深圳市易捷测试技术有限公司
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J7000B系列—抖动噪声发生器
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
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Noisecom J7000B系列抖动噪声源产生高波峰因子的加性高斯白噪声,模拟真实世界的随机抖动(Random Jitter:Rj)。 随机抖动通常指的用工业领域可接受的等级模型作为参照,抗随机抖动噪声能力是大数据数据总线和设备的重要指标。如今的高速数字电路设计面临着窄带大功率噪声干扰下的大数据率、低误码率传输的压力,这种压力随着频率和数据速率的提升与日俱增。
Noisecom J7000B系列抖动噪声发生器可以直接向高速数据流中加载随机抖动噪声,设计师通过简单的工具比如示波器或者误码仪就能评估其系统设备的性能,通过加入量化的高斯白噪声以降低信噪比也能测试接收机性能。这些特性能用最小化的时间成本去做到最大化的系统余量评估和最大化的系统传输速率设计。
Noisecom J7000B是单端或者差分设备的理想质量测试或者性能测试工具,对于PAM-4类多个信号路径的设备,它也可以通过配置去完成测试。J7000B也用户接收机灵敏度测试:向PC测试板加入噪声信号以量化待测设备的抗PC板辐射能力。J7000B提供各种标准频段的货架产品,并且支持定制。它可以增加5个可选配的带阻滤波器,用以特定串行数据的测试或者计量。J7000B自带7英寸的触摸屏,方便配置和操作,噪声功率、噪声开关、信号开关以及噪声源选择都可由触摸屏完成操作,也可以通过以太网或者GPIB选项进行远程控制,实现自动测试,提升效率。
主要参数:
1. 输出高斯白噪声
2. 高达18dB的峰值因子
3. 输出噪声功率-3 dBm (+/- 0.5 dBm)
4. 噪声衰减量程 0 to 63 dB,0.1 dB 步进,频率高达 2 GHz
5. 噪声衰减精度 ±0.2 dB or 0.5%
6. 信号路径增益0 ±1 dB
7. 超低失真信号路径
8. 标准连接器 SMA (母头)
9. 7英寸触摸屏
10. 尺寸: 43.74cm x 16.002cm x 49.53cm(包含折叠式支撑脚)
11. 供电电压 115 VAC, 60 Hz
12. 工作温度: -10° to +65°C
13. 支持差分输入/输出
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