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仪表类|高斯白噪声发生器
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
UFX7000A/B系列—高斯白噪声发生器
Noisecom UFX7000A系列仪器具有非常出色平坦度的宽带高斯噪声（AWGN）。
输出功率可以0.1 dB的步进衰减，最大衰减动态为127dB，并且有几种不同的输出接口类型。
待机模式时，输出RF开关端接至50Ω负载，在“输出开”的状态下，开关切到端口连接器。UFX7000系列灵活的结构提供了各种选择，包括内部组合器，0.1 dB衰减步长和用于多达4条滤波器路径的内部开关。
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主要指标：
1. 输出高斯白噪声
2. 输出功率高达30dbm
3. 最小0.1dB步进衰减，最大衰减动态127dB
4. 大于2GHz单元的以上总衰减值79.9dB
5. 低失真信号路径
6. 供电115V AC, 60Hz
7. 噪声衰减精度: ±0.2dB or 0.5% （ 1MHz-500 MHz）， ±0.2dB or 1% （ 0.5GHz-1.0 GHz）， ±0.3dB or 2% （1GHz-2GHz）
8. 标准连接器SMA母头（可选）
9. 7寸触摸屏
10. 尺寸: 43.82 x 16.51 x 49.53cm
11. 工作温度: -10° to +65°C
12. 可带移动硬盘以增加安全性
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