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高性能下变频模块

高性能下变频模块

HX4210—低相噪分频模块TX49204GHz~24GHz下变频ANSI Z540校准至20GHz全频段低于-135dBc/Hz相噪(10kHz频偏)4dBm~10dBm输入功率8dBm左右输出功率
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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

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外形尺寸



HX4210—低相噪分频模块



HX4920



20200517124522_5659320200517124621_59634

4GHz~24GHz下变频

ANSI Z540校准至20GHz

全频段低于-135dBc/Hz相噪(10kHz频偏)

4dBm~10dBm输入功率

8dBm左右输出功率