深圳市易捷测试技术有限公司
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Focus 矢量负载牵引系统(Vector Load Pull)
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
通过矢量负载牵引技术,实现射频和微波调谐的无与伦比的精度。利用我们先进的调谐器,全面控制阻抗和相位,以最大化器件性能。
更先进的负载牵引设置,称为矢量负载牵引或矢量网络分析仪辅助负载牵引,为测量过程引入了更高水平的复杂性和准确性。在此设置中,使用两个定向耦合器连接在被测设备(DUT)的输入和输出端,以测量前向(a1, b1)和反向(a2, b2)行波。通过捕获“a”和“b”波形,矢量负载牵引可以计算实时调谐器呈现给DUT的阻抗,从而减少对调谐器校准的依赖并提高测量准确性。
虽然调谐器校准有助于高效地将调谐引导至史密斯图的正确区域,但基于测量波形实时计算调谐器阻抗为负载牵引测量提供了一种动态且适应性强的方法,从而优化性能和结果。
在典型的矢量负载牵引设置中,两个双向耦合器、源调谐器和负载调谐器以及具有接收器访问功能的矢量网络分析仪是必不可少的组件。在DUT参考平面进行绝对校准对于完全计算8项误差模型至关重要,这确保了准确的测量结果,不会留下可能损害测量精度的复合项。这种校准方法允许全面评估DUT在各种负载条件下的性能,为优化器件设计和性能提供有价值的见解。
1. 产品范围:覆盖0.5-110GHz全频段
2. 关键技术特性:
- 全矢量参数测量,同时获取S参数和功率特性
- 支持谐波负载牵引测试(2-5次谐波)
- 测试精度:功率测量精度±0.1dB
3. 应用场景:
- 射频器件的非线性特性建模
- 高功率器件的可靠性评估
- 毫米波器件的深度表征
矢量负载拉取设置可以通过相关硬件升级为混合主动负载拉取和时域测量。
| 型号系列 | 频率范围 | 功率容量 | 驻波比(VSWR) | 测试速度 | 应用场景 |
| VLP-1800 | 0.5-18GHz | 100W CW | ≥50:1 | <10分钟 | 非线性特性建模 |
| VLP-4000 | 0.5-40GHz | 50W CW | ≥30:1 | <15分钟 | 高功率器件可靠性评估 |
| VLP-11000 | 26.5-110GHz | 20W CW | ≥20:1 | <20分钟 | | 毫米波器件深度表征 |

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