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手动探针台|直流射频晶圆级测试探针台|12英寸探针台

12英寸手动开放式探针台。可搭载高温模块实现高温测试

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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述

产品规格表

外形尺寸

TS300-SE 12英寸手动探针台

产品特点：

1，单机多应用设计

适用于多种晶圆量测应用，如组件特性描述和建模、射频和毫米波、晶圆级可靠性（WLR)和失效分析（FA）

2，MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽环境

专为EMI/RFI/Light-Tight屏蔽所设计的精密量测环境。
支援飞安级低漏电量量测
内建防震系统
温度量测范围-60 °C 至 300 °C

3，工效学设计及弹性选配

方便单手操作的快速释放拖移气浮载物台设计
另有多种晶圆载物台可做升级，亦有诸多配件如DC/RF/mmW微定位器、光学显微镜等来搭配ShielDEnviroment™，以完全支援您的应用需求

设备简介：

MPI TS300-ShielDEnvironment™（TS300-SE）旨在确保在-60至+ 300°C的温度范围内对300 mm晶圆提供高级EMI / RFI /不透光屏蔽，超低噪声，低泄漏测量功能。它以最佳高度与防震台结合在一起，使日常操作非常方便。

机台特征：

上一个：探针台| 12英寸半自动探针台|

下一个：半自动探针台|8英寸高压探针台TS2000-DP

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