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低温阻抗调谐器LNA测量设备
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
低温阻抗调谐器
CT系列低温自动调谐器由外部控制器驱动，该控制器通过内置的接线连接到调谐器，并通过直接SCPI命令进行USB控制。
特点和优点
专为4K以下应用设计的固态自动阻抗调谐器
对不匹配的晶体管或现有LNA执行噪声参数（NP）测量
评估噪声和增益曲线，并确定满足设计要求的最佳阻抗匹配
构建匹配网络，优化LNA性能
Frequency Range2-18 GHz
Impedance States4
p1dB (dBm)30
Repeatability-60dB
Integrated Bias TeeMax current = 270mA Irms
Max voltage = 10V
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