深圳市易捷测试技术有限公司
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Focus Scallar Load Pull
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
用于表征射频和微波器件的经典负载牵引测量系统。该技术通过改变源端和负载阻抗来寻找器件的最佳工作条件。 核心组件。
| 组件 | 功能 |
预校准源调配器 | 连接至待测器件输入端;产生复反射系数 |
预校准负载调配器 | 连接至待测器件输出端;实现可重复的阻抗合成 |
功率计 | 通过耦合器连接至调配器输入/输出端;测量功率电平 |
耦合器 | 将功率计耦合至测量路径 |
核心工作原理
1. 阻抗调节:通过使用预校准的源端和负载调配器来调节阻抗设置,工程师可以合成特定的阻抗条件
2. 最佳负载阻抗:主要目标是找出能够产生最大输出功率的负载阻抗,基于最大功率传输定理
3. 最佳源阻抗:同样地,输入端寻找对应于最大 transducer 增益的源阻抗
4. 重复性与精度:该技术的有效性完全取决于调配器的校准精度——复反射系数的一致性确保了测量的可靠性
关键优势
该技术的关键优势在于其高重复性,使工程师能够精确、一致地微调阻抗,并在多次测量中持续优化器件性能。
产品关键概况:
1. 产品范围:覆盖0.5-110GHz全频段
2. 关键技术特性:
- 单端口标量测量,专注于功率特性表征
- 支持连续波(CW)和脉冲模式测试
- 测试速度:典型测量时间<5分钟
3. 应用场景:
- 功率放大器(PA)的快速性能评估
- 量产测试中的快速筛选
- 教学实验中的基础负载牵引演示
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