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Maury微波校准套件| Cal kit
探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域
美国Maury微波公司的每种产品提供ANSI/NCSL Z540-1（MIL-STD-45662A）校准和商业级校准服务。其实验室符合ANSI/NCSL Z540-1 ISO 10012:2003标准，可追溯至NIST（美国国家标准与技术研究所）。
每款Maury微波产品均附有合格证书，以确保其经过测试并在操作公差范围内。使用这些产品时，可能会发生变化，从而导致超差情况。因此，建议定期校准以保持功能完整性。建议将VNA校准套件和连接器仪表置于12个月的校准周期内。
有关Maury Microwave校准级（计量）适配器产品、品牌及Maury Microwave Corporation.公司的信息：
Maury and Associates由Mario A. Maury Sr.于1957年10月15日在加利福尼亚州Montclair成立。在儿子Mario A. Maury，Jr.和Marc A. Maury的帮助下，该公司在微波测试和校准行业赢得了良好的声誉，同时开发了全系列的精密仪器，同轴和波导部件，以及支持产品。 现在，在满足客户的需求50多年后，以Maury Microwave公司为名经营。 公司已成为世界领先的实验室设备和系统组件制造商，重点是器件表征和自动调谐系统。 Maury Microwave Corporation在业务的所有方面以及所有的产品和服务方面都对环境负责和具有安全意识。
莫里精密VNA校准套件，对于固定载荷、滑动载荷和TRL校准钥匙瞄准器、罗德、施瓦茨 和安立苏虚拟导航系统 1.85mm, 2.4mm, 2.92mm, 3.5mm, 7mm, Type N, TNC, BNC, and Waveguide VNA Calibration Kits 波导VNA校准套件。 深圳易捷测试作为一流的微波测量厂家美国Maury公司的代理商，可提供适合所有公司的矢量网络分析仪的Maury各式的矢网校准件,并且可以就某一校准件单独出售，提供了灵活的校准件组合方式。 |
 | 同轴VNA校准件|1.85mm校准套件|7850系列Maury 1.85mm校准套件设计用于使用从DC到67 GHz的精密50ohm 1.85mm连接器在各种矢量网络分析仪上进行误差校正测量。每个套件都包含完整的校准标准，并提供可选的串联适配器。7850系列校准套件有TRL格式。现代VNA的校准套件系数文件和支持文档可在此处下载。 |
 | Maury 2.4mm同轴校准套件|7950系列 深圳易捷作为一流的微波测量厂家美国Maury公司的代理商，可提供适合所有公司的矢量网络分析仪的Maury各式的矢网校准件,并且可以就某一校准件单独出售，提供了灵活的校准件组合方式。 Maury 2.4mm校准套件设计用于使用从DC到50 GHz的精密50ohm 2.4mm连接器在各种矢量网络分析仪上进行误差校正测量。每个套件都包含完整的校准标准，并提供可选的串联适配器。7950系列校准套件提供标准固定负载SOLT，使用多项式定义和特征化设备（CD）固定负载SOLT，使用单独表征的校准标准。 |
 | 同轴校准件 2.92mm校准件 Maury 2.92mm校准套件设计用于使用从DC到40 GHz的精密50ohm 2.92mm连接器在各种矢量网络分析仪上进行误差校正测量。每个套件都包含完整的校准标准，并提供可选的串联适配器。8770系列校准套件提供标准固定负载SOLT，使用多项式定义和特征化设备（CD）固定负载SOLT，使用单独表征的校准标准。 |
 | Maury 3.5mm同轴校准件|8050系列 Maury 3.5mm校准套件设计用于使用从DC到26.5 GHz的精密50ohm 3.5mm连接器在各种矢量网络分析仪上进行误差校正测量。每个套件都包含完整的校准标准，并提供可选的串联适配器。8050系列校准套件提供标准固定负载SOLT，使用多项式定义和特征化设备（CD）固定负载SOLT，使用单独表征的校准标准。现代VNA的校准套件系数 |
单端口校准：
单端口校准可以测量并最小化来自反射测量的三个系统误差项（方向性，源匹配和反射跟踪）。必须测量三种已知的校准标准，例如短路，开路和负载（负载值通常与测试系统的特性阻抗相同，通常为50或75欧姆）。单端口校准可以导出DUT的实际反射S参数。
单端口校准方法：
（SOL）短开路负载校准 - 用于测量VSWR /回波损耗的响应校准。
（SSL）短 - 短负载校准 - 用于测量波导应用中的VSWR /回波损耗的校准
为什么要使用滑动载荷？执行SOL，SOLT或SSLT（波导）校准时，阻抗标准是负载。在频率高于2 GHz（4 GHz，2.4 mm）的情况下，滑动负载是更精确的阻抗标准。因此，滑动负载将在更高频率下提供更好的校准。（减少方向性误差）
双端口校准
双端口纠错产生最完整的校准，因为它解决了在两个端口DUT的两个端口上通过单端口校准解决的系统误差的三个主要来源。传统的全双端口校准采用三种阻抗标准和一种传输标准来定义校准参考平面。这些标准，通常是短标准，开放标准，负载标准和直通标准，构成SOLT校准套件。最常用的Thru是直接连接在一起的测试端口。
双端口全校准方法：
（SOLT）短开 - 负载 - 全双端口校准，用于执行正向和反向传输和反射测量。
（SSLT）Short-Short-Load-Thru - 完整的双端口校准，用于执行正向和反向传输和反射测量。
（TRL）直通反射线 - 全双端口校准，用于执行正向和反向传输和反射测量。
TRL校正与SOLT校准相同的误差项，尽管它使用不同的校准标准。TRL的其他变体是基于线反射匹配（负载）校准标准或直通反射匹配（TRM）校准标准的线反射线（LRL），（LRM）。在诸如波导的非同轴应用中，TRL通常实现比SOLT更好的源匹配和负载匹配校正。虽然不常用，同轴TRL也可以提供比SOLT更高的精度，但仅限于使用非常高质量的同轴传输线（例如无珠航空公司）。
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