MPI探针台| DP80-ADV半自动光学模块芯片探针台_MPI探针台设备_产品中心

DP80-ADV是一款多功能半自动芯片探针系统，专为测试芯片级与封装级光子集成电路PIC、芯片组件及其他光学器件而设计。该设备提供可配置的探针布局方案和灵活的光纤安装方式，能够满足各类测试需求。系统支持被动式与主动式对准程序，从而在不同应用场景中显著提升测试效率。

主要特性：

柔性接触与校准工具

选项：

DP80系列提供可配置的芯片探针，优化用于测试芯片级PIC、芯片和其他光学设备。

该系列的每个型号都支持不同的需求，从研发到已知良好晶圆（KGD）生产和封装级验证

	DP80-PRO	DP80-ADV	DP80-STD
DUT	Single die(CPO/EIC+PIC)	Single die(PIC)	Single die(Waveguide/PIC)
Probing Mechanism	High pin-count VPC	Probe card/Positioners	Positioners
Coupling Mode	surface/edge/or battom coupling
Alignment	Free space/connector	Free space	Free space
Chuck	0⁰C to 120⁰C
Selectable Stations	Max.left 3 stations Max.right 3 stations		Max.left 1 stations Max.right 1 stations
PnP station	Optional	Optional	N/A

DP80 Series Flyer - ECOC

Dimensions(WDH):1070 x 920 x1919 mm

Weight: 1200 kg (2646 Ib)