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低相噪放大模块

低相噪放大模块

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探针台|全自动探针台|硅光晶圆测试系统|半自动探针台|手动探针台|国产探针台|Hanwa ESD/ TLP测试仪|CDM测试机|晶圆级ESD测试仪|芯片HCI/BTI/TDDB/DCEM可靠性测试设备、满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。广泛应用于:WAT/CP测试、I-V/C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试(硅光、CMOS,SPAD传感器等)、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域

产品概述
产品规格表
外形尺寸



20200516204301_5931820200516205707_1514020200516205335_98789



HX2600—低相噪放大模块





HX2600



20200516205335_9878920200516205343_94994覆盖至500MHz、4GHz或6GHz

超低附加相噪

10dB以上增益

大于15dBm P1dB

HX2410为CMOS放大器

HX2410—低相噪放大模块




HX2410






20200516205707_1514020200516205714_32506

覆盖至500MHz、4GHz或6GHz

超低附加相噪

10dB以上增益

大于15dBm P1dB

HX2410为CMOS放大器

HX2400—低相噪放大模块




HX2400


20200516204301_5931820200516204310_85436 (1)覆盖至500MHz、4GHz或6GHz

超低附加相噪

10dB以上增益

大于15dBm P1dB

HX2410为CMOS放大器


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