芯片CDM/ESD测试设备-易捷测试技术集成Hanwa预交付张家港市集成电路产业促进中心搭建CDM测试系统_中标项目_成交项目|企业动态

CDM测试系统和晶圆级ESD全自动测试机成交真实案例-易捷测试技术集成Hanwa预交付张家港市集成电路产业促进中心搭建晶圆级CDM测试系统。

交付系统：GBITEST探针台系统& Hanwa HED-C5000R CDM测试仪，HED-N5000多管脚高性能全自动静电放电测试机

采购方：张家港市集成电路产业促进中心是由张家港市政府与中国科学院上海微系统与信息技术研究所及上海市集成电路技术与产业促进中心合作共建的集成电路领域综合性公共服务平台，成立于 2018 年 11 月45。主要提供

芯片设计（EDA/IP）服务、流片代工（MPW/NTO）服务、封装测试服务、失效分析、材料分析、竞品分析、可靠性验证等一系列专业技术服务。

供应方：深圳市易捷测试技术有限公司主要业务包括提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，以及完整的系统集成服务。具体有各式探针台系统、自主研发半导体测试软件、探针台升级改造服务等，可满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。产品和服务广泛应用于 WAT/CP 测试、I-V／C-V 测试、RF/mmW 测试、高压 / 大电流测试、MEMS、高低温测试、光电器件测试、硅光测试、晶圆级失效分析（包括 ESD 测试）、封装检测等领域。

产品简介：

1，全自动CDM测试仪：

该系统采用自主研发的放电电路单元更换，支持国内外各种标准的测试方法。此外，对于2015年4月正式发布的“ANSI/ESDA/JEDEC JS002-2014”放电波形参数的施加单元，也能够兼容。

此设备是符合国际标准的高可靠性设备(满足JEITA / ESDA / JEDEC规格)，可通过交换放电电路组件支持日本国内及国际的测试规格，可测量器件的各个端子的充放电能力,测试数据可保存为文本文件形式。

对应最新标准（C5000R的第一对应）

相应的“ANSI / ESDA / JEDEC JS002-2014”的应用单元，环境也可以是相应的规范。

温度和湿度控制（C5000R的第一对应关系）

它可以是用氮气干燥空气的温度和湿度控制。

PIN目的地的可视化（C5000R的第一对应）

在由CCD照相机的所有的测试方法，可见对设备的访问的PIN目的地。

设备应对

对应于各种设备的形状。（测量可动范围80毫米×200毫米）

外加电压范围

+/- 10V〜4000V +/-（+/- 5Vstep）

规范：

试验机模型	HED-C5000R
相应的测试标准	JEDEC / ESDA / AEC / JEITA
的测试引脚的数量	1024pin或更高版本（可选）
重型电机电压	+/- 10V〜4000V +/-
跨步电压	5V
应用程序的数量	1〜99times
间隔时间	0.3〜9.9S
重型电机电压精度	1％+ 5V
电源电压	100-240V / 2A，50 / 60Hz的
物理尺寸	575（W）×400（D）×300（H）

重量

40公斤

对于ANSI / ESDA / JEDEC JS002-2014的“标准的内容是一个标准，诸如合并JEDEC和ESDA的内容。参照JEDEC，技术缺陷的部分，已掺入ESDA。JEDEC是， “JESD22-C101F”，从ESDA，从 “ANSI / ESD S5.3.1-2009” 变化。

ANSI的/ ESDA / JEDEC JS002-2014重大变化对照表：

标准	ANSI / ESDA / JEDEC JS-002 2014	JESD22-C101F	ANSI / ESD S5.3.1-2009
测试环境	在室温下的30％以下的湿度	在室温下和60％以下的湿度	室温
观察波形示波器	1GHz的和6GHz的上市	1GHz的	上市的1GHz和3GHz的

2，HANWA HCE-N5000 全自动晶圆ESD测试机简介：

HED-N5000|多管脚高性能全自动静电放电测试机_ESD/CDM/TLP测试仪_产品中心_深圳市易捷测试技术有限公司